1.產(chǎn)品功能/性能測(cè)試：驗(yàn)證產(chǎn)品是否達(dá)到設(shè)計(jì)規(guī)格書中的功能和性能指標(biāo)；
2.可靠性測(cè)試：測(cè)試產(chǎn)品壽命和可靠程度，找出產(chǎn)品在原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面所存在的問題，是產(chǎn)品量產(chǎn)前必不可少的環(huán)節(jié)
3.量產(chǎn)自動(dòng)化測(cè)試：批量測(cè)試產(chǎn)品，剔除生產(chǎn)工藝缺陷造成的不良品。
在產(chǎn)品開發(fā)流程中從產(chǎn)品概念階段、計(jì)劃階段、開發(fā)階段到樣品驗(yàn)證階段整個(gè)可靠性測(cè)試流程應(yīng)該包括：可靠性設(shè)計(jì)需求書-可靠性測(cè)試方案-可靠性平臺(tái)設(shè)計(jì)-樣品可靠性測(cè)試報(bào)告。
可靠性測(cè)試的目的在于剔除產(chǎn)品由于原材料、結(jié)構(gòu)、工藝、環(huán)境適應(yīng)性等方面問題造成的早期失效，確保產(chǎn)品的使用期壽命達(dá)到設(shè)計(jì)預(yù)期。
常用可靠性測(cè)試規(guī)范
電子產(chǎn)品常用的工業(yè)級(jí)可靠性測(cè)試可分為以下幾類：
1.環(huán)境應(yīng)力測(cè)試
發(fā)現(xiàn)和排除產(chǎn)品中不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效，在環(huán)境應(yīng)力下所做的一系列試驗(yàn)。對(duì)電子產(chǎn)品，ESS的應(yīng)力主要選擇溫度（高、低溫）循環(huán)和隨機(jī)振動(dòng)，這兩種應(yīng)力的組合篩選效果較好，能暴露產(chǎn)品各組裝等級(jí)大部分故障。
2.電測(cè)試
電學(xué)性能測(cè)試：溫升測(cè)試、耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、介電強(qiáng)度測(cè)試、接觸電阻測(cè)試、表面電阻率測(cè)試、接地電阻測(cè)試。
3.機(jī)械應(yīng)力測(cè)試
機(jī)械應(yīng)力測(cè)試主要包括機(jī)械沖擊、折彎測(cè)試、掉落測(cè)試、振動(dòng)和掃頻測(cè)試、焊球的剪切測(cè)試、焊線邦定的剪切測(cè)試。
4.綜合測(cè)試
檢測(cè)流程步驟
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