LED器件檢測需要根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)指定項目、方法進行，GB國標(biāo)、行標(biāo)、外標(biāo)、企標(biāo)、地方標(biāo)準(zhǔn)。LED器件檢測樣品檢測報告結(jié)果會與標(biāo)準(zhǔn)中要求對比，在報告中體現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量。第三方檢測機構(gòu)可提供LED器件檢測一站式服務(wù)，工程師一對一服務(wù)，確認(rèn)需求、推薦方案、寄樣送檢、出具報告、售后服務(wù)，3-15工作日出具報告，歡迎咨詢LED器件檢測周期3-15個工作日，可加急（特殊項目除外），歡迎咨詢。
致力于為客戶提供高水平的檢測服務(wù)，幫助客戶確保產(chǎn)品質(zhì)量，提高您的競爭力，保障消費者的安全和健康，是商家和消費者可信賴的合作伙伴。涵蓋了眾多產(chǎn)品和領(lǐng)域的檢測服務(wù)，包括但不限于化妝品、食品、飲料、機械、電子電器、化學(xué)、材料、紡織品等。
LED器件檢測項目：
檢測項目：
光譜、光通量、平均光強、電性能、低溫試驗、恒定濕熱試驗、溫度變化、濕熱循環(huán)、鹽霧、高溫試驗
LED器件檢測標(biāo)準(zhǔn)：
檢測標(biāo)準(zhǔn)：
1、Kb： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗鹽霧，交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012IEC 60068-2-52:2017 EN 60068-2-52:2018
2、GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007
3、JESD 22-A108F:2017 溫度、偏置、工作壽命 JESD22-A108F:2017
4、 JEITA ED- 4701/200A：2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性檢測方法（壽命試驗II） JEITA ED-4701/200A：2013
5、MIL-STD-202H 2015 電子和電子元器件部件檢測方法標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-202-107
6、 JEITA ED- 4701/ 200A：2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性檢測方法（壽命試驗II） JEITA ED-4701/ 200A：2013
7、JESD22-A108F-2017 溫度、偏置、工作壽命 4.2.3.2
8、JEITA ED-4701/200A :2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性檢測方法（壽命試驗II） 附錄202A
9、CIE 127-2007 LED測量方法 CIE 127-2007
10、GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2:2007 EN 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2:2007 EN 60068-2-2:2007
11、JESD22-A108F:2017 溫度、偏置、工作壽命 4.2.3
12、GB/T 2423.18-2012IEC 60068-2-52:2017 EN 60068-2-52:2018 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Kb：鹽霧，交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012IEC 60068-2-52:2017 EN 60068-2-52:2018 9
13、CIE 127-2007 LED測量方法 7
14、GB／T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 GB／T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009
15、GB/T 2423.34-2012 IEC 60068-2-38:2009 EN 60068-2-38:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012 IEC 60068-2-38:2009 EN 60068-2-38:2009
16、 JEITA ED- 4701/100A:2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性檢測方法（壽命試驗I） JEITA ED-4701/100A:2013
17、JEITA ED-4701/ 200A：2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性檢測方法（壽命試驗II） 附件 203A
18、GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007 6
19、GB/T2423.17-2008IEC 60068-2-11:1981 EN 60068-2-11:1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧 GB/T2423.17-2008IEC 60068-2-11:1981 EN 60068-2-11:1999 6
20、GB/T 2423.3-2016IEC 60068-2-78:2012 EN 60068-2-78:2013 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016IEC 60068-2-78:2012 EN 60068-2-78:2013
檢測流程
1、確認(rèn)樣品和需求
2、制定方案
3、報價
4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實驗
5、3-15個工作日（特殊樣品除外）完成實驗
6、出具檢測報告，后期服務(wù)。
檢測報告作用：
1、項目招投標(biāo)：CMA/CNAS資質(zhì)報告;
2、上線電商平臺入駐：質(zhì)檢報告各大電商平臺認(rèn)可;
3、用作銷售報告：出具具有法律效應(yīng)的檢測報告，讓消費者更放心;
4、論文及科研：提供的個性化檢測需求;
5、司法服務(wù)：提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測數(shù)據(jù);
6、工業(yè)問題診斷：驗證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;
以上文章內(nèi)容為部分列舉，更多檢測需求及詳情免費咨詢機構(gòu)在線客服，做檢測上百檢，實樣檢測，真實報告。
檢測流程步驟
溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。
