標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，納米 薄膜 儀涉及到長(zhǎng)度和角度測(cè)量、分析化學(xué)、玻璃、機(jī)械試驗(yàn)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、橡膠和塑料制品、物理學(xué)、化學(xué)、電子元器件綜合、光學(xué)設(shè)備。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)中，納米 薄膜 儀涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、工業(yè)技術(shù)玻璃、物理學(xué)與力學(xué)、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、合成樹(shù)脂、塑料、電子元件綜合、合成樹(shù)脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法。

市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測(cè)定納米薄膜厚度的方法

中華人民共和國(guó)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 33826-2017 玻璃襯底上納米薄膜厚度測(cè)量 觸針式輪廓儀法

質(zhì)檢總局，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 30447-2013 納米薄膜接觸角測(cè)量方法

GB/T 25898-2010 儀器化納米壓入試驗(yàn)方法 薄膜的壓入硬度和彈性模量

GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜.元素深度分布的定量測(cè)定.輝光放電原子發(fā)射光譜法

，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

PNST 60-2015 高分子共擠壓薄膜改性納米復(fù)合材料通用規(guī)格

PNST 60-2015 高分子共擠壓薄膜改性納米復(fù)合材料通用規(guī)格

GOST R 8.698-2010 確保測(cè)量一致性的體系.納米粒子和薄膜的空間參數(shù).利用小角度X-射線散射衍射儀的測(cè)量方法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

BS PD IEC/TS 62607-5-1-2014 納米制造. 關(guān)鍵控制特性. 有機(jī)薄膜/納米電子器件. 載波傳輸測(cè)量

電工委員會(huì)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

IEC/TS 62607-5-1-2014 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機(jī)/納米電子設(shè)備.載體運(yùn)輸測(cè)量

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

DIN IEC/TS 62607-5-1-2014 納米加工.關(guān)鍵控制特性.第5-1部分:薄膜有機(jī)/納米電子設(shè)備.載體運(yùn)輸測(cè)量(IEC 113/183/CD-2013)

美國(guó)通用公司()，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

GMW GMW16170-2011 薄膜.納米厚度(NT)的預(yù)處理一般質(zhì)量要求.第2次出版(英文版本)

美國(guó)通用公司(北美)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

GM 9986321-2008 薄膜.納米厚度(NT)預(yù)處理通用質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

韓國(guó)標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于納米 薄膜 儀的標(biāo)準(zhǔn)

KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣

KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣

檢測(cè)流程步驟

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