檢測范圍
多晶硅
檢測項目
Fe、Al、Ca、Mn、Ti、Ni、Cu、Cr、V、Mg、Co、P、K、Na、Pb、Zn、B、C、H、O檢測等。
國標(biāo)參考
GB/T 2881-2014工業(yè)硅
GB/T 4059-2018硅多晶氣氛區(qū)熔基磷檢驗方法
GB/T 4060-2018硅多晶真空區(qū)熔基硼檢驗方法
GB/T 6497-1986地面用太陽電池標(biāo)定的一般規(guī)定
GB/T 10067.416-2019電熱和電磁處理裝置基本技術(shù)條件 第416部分:多晶硅鑄錠爐
GB/T 12963-2014電子級多晶硅
GB/T 15909-2017電子工業(yè)用氣體 硅烷
GB/T 18916.47-2020取水定額 第47部分:多晶硅生產(chǎn)
GB/T 24579-2009酸浸取 原子吸收光譜法測定多晶硅表面金屬污染物
GB/T 24582-2009酸浸取 電感耦合等離子質(zhì)譜儀測定多晶硅表面金屬雜質(zhì)
行標(biāo)參考
HG/T 4692-2014工業(yè)氟硅酸銨
HG/T 4901-2016層壓機用氟硅復(fù)合橡膠壓板
JC/T 2067-2011太陽能多晶硅用熔融石英陶瓷坩堝
JC/T 2349-2015多晶硅生產(chǎn)用氮化硅陶瓷絕緣體
JC/T 2515-2019硅粉輸送用陶瓷球閥 技術(shù)條件
YB/T 4585-2017鑄錠爐用板狀結(jié)構(gòu)炭/炭復(fù)合材料
YB/T 4586-2017鑄錠爐保溫用炭/炭復(fù)合材料
YB/T 4590-2017硅材料用高純石墨制品中雜質(zhì)含量的測定 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法
YS/T 679-2018非本征半導(dǎo)體中少數(shù)載流子擴(kuò)散長度的檢測 表面光電壓法
YS/T 724-2016多晶硅用硅粉
團(tuán)標(biāo)參考
T/CEMIA 018-2019光伏多晶硅用熔融石英陶瓷坩堝
T/CESA 1082-2020多晶硅制造業(yè)綠色工廠評價要求
T/FSI 003-2016氣相二氧化硅生產(chǎn)用四氯化硅
T/ICMTIA 3-2020集成電路用六氯乙硅烷
T/ZZB 0061-2016多晶硅鑄錠爐
T/ZZB 1041-2019多晶硅太陽電池
檢測流程步驟
溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。