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磁敏電阻第三方檢測(cè)

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

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檢測(cè)周期

一般3-15個(gè)工作日,可加急。

檢測(cè)方式

可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見(jiàn)證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。

檢測(cè)費(fèi)用

具體根據(jù)磁敏電阻檢測(cè)檢測(cè)數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€客服。

檢測(cè)產(chǎn)品

0磁敏電阻簡(jiǎn)介

磁敏電阻是一種對(duì)磁敏感、具有磁阻效應(yīng)的電阻元件。物質(zhì)在磁場(chǎng)中電阻發(fā)生變化的現(xiàn)象稱(chēng)為磁阻效應(yīng)。磁敏電阻通常用銻化銦(InSb)或砷化銦(InAs)等對(duì)磁具有敏感性的半導(dǎo)體材料制成。半導(dǎo)體材料的磁阻效應(yīng)包括物理磁阻效應(yīng)和幾何磁阻效應(yīng),其中物理磁阻效應(yīng)又稱(chēng)為磁電阻率效應(yīng)。當(dāng)外加磁場(chǎng)的方向或強(qiáng)度發(fā)生變化時(shí),磁敏電阻的阻值相應(yīng)改變[2],利用該變化,可*地測(cè)試出磁場(chǎng)的相對(duì)位移。例如,在一個(gè)長(zhǎng)方形半導(dǎo)體InSb片中,沿長(zhǎng)度方向有電流通過(guò)時(shí),若在垂直于電流片的寬度方向上施加一個(gè)磁場(chǎng),半導(dǎo)體InSb片長(zhǎng)度方向上就會(huì)發(fā)生電阻率增大的現(xiàn)象。

1磁敏電阻概述

磁敏電阻是一種基于磁阻效應(yīng)而制作的電阻體。它在外施磁場(chǎng)的作用下(包括外施磁場(chǎng)的強(qiáng)度及方向的變化)能夠改變自身的阻值,是一種新穎的傳感元件。它可分為半導(dǎo)體磁敏及強(qiáng)磁性金屬薄膜磁敏電阻兩大類(lèi)。

磁場(chǎng)作用在導(dǎo)體上的各種物理效應(yīng)(霍爾效應(yīng)、磁阻效應(yīng))早在1879~1883年間在金屬中就發(fā)現(xiàn)了,但因效應(yīng)不顯著,長(zhǎng)期以來(lái)未得到廣泛應(yīng)用。半導(dǎo)體出現(xiàn)后,在20世紀(jì)50年代后半期開(kāi)發(fā)了高遷移率的新型化合物半導(dǎo)體材料,如銻化銦(InSb)等,也促進(jìn)了霍耳器件和磁阻器件的研究、開(kāi)發(fā)和應(yīng)用。

半導(dǎo)體磁敏電阻的研制始于6 0年代初,在這方面聯(lián)邦德國(guó)西門(mén)子公司較為,繼而是日本、美國(guó)、蘇聯(lián)、西歐等國(guó)。在60年代中期即有商品銷(xiāo)售,因其和普通電阻一樣,具有兩個(gè)端子、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、靈敏度高、安裝方便等優(yōu)點(diǎn),其應(yīng)用較為普遍。

強(qiáng)磁性金屬薄膜磁敏電阻是用強(qiáng)磁性合金材料制成的一種薄膜型的磁敏電陰器件,其作用原理是強(qiáng)磁性體的磁阻效應(yīng),它和半導(dǎo)體磁敏電阻不同,除對(duì)磁場(chǎng)的強(qiáng)度敏感(和半導(dǎo)體磁敏電阻相同點(diǎn))外,對(duì)磁場(chǎng)的方向也十分敏感(和半導(dǎo)體磁敏電阻不同點(diǎn))。由于薄膜不是半導(dǎo)體材料而是強(qiáng)磁性體合金,因此具有較小的溫度系數(shù),且性能較為穩(wěn)定、靈敏度高,現(xiàn)已商品化和實(shí)用化。

強(qiáng)磁性金屬薄膜磁敏電阻是日本索尼公司于70年代初開(kāi)發(fā)的一種磁敏器件,它在問(wèn)世后十幾年的時(shí)間中,發(fā)展十分迅速。可以用它構(gòu)成許多新型磁敏傳感器用于測(cè)量微位移、角度、轉(zhuǎn)速、流量、壓力等。

2磁敏電阻工作原理

3磁敏電阻參考資料


1.“磁傳感器及其應(yīng)用技術(shù)”講座 第四講 磁敏電阻傳感器 程志奇 吉林省輕工設(shè)計(jì)研究院 《自動(dòng)化儀表》1988年08期
2.《中國(guó)電力百科全書(shū)》編輯委員會(huì),中國(guó)電力出版社《中國(guó)電力百科全書(shū)》編輯部.中國(guó)電力百科全書(shū):中國(guó)電力出版社,1995
3.袁運(yùn)開(kāi),顧明遠(yuǎn);孫大文,柯嘉康,趙學(xué)漱.科學(xué)技術(shù)社會(huì)辭典:浙江教育出版社,1999

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檢測(cè)流程步驟

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