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金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量
射線光譜方法
1范圍
警告﹔本標準不包括人員防X射線輻射的問題,關(guān)于此重要方面的信息,可參考現(xiàn)行的國際和國家標準及地方法規(guī)。
1.1本標準規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。
1.2本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度﹐則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。
1.3 本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系,或同時測量三層組分的厚度和成分。
1.4︰給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度,而且因所用儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同。
檢測項目及標準
序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
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1 | 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜法 GB/T16921-2005 | *飾,仿真飾品及其貴金屬合金 | 鍍層厚度 |
2 | *飾 金、銀覆蓋層厚度的測定 X射線熒光光譜法 QB/T 1135-2006 | *飾,仿真飾品及其貴金屬合金 | 鍍層厚度 |
檢測流程步驟
溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。