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aec-q101半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)方法詳解

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

隨著汽車電子智能化的發(fā)展,汽車行業(yè)的產(chǎn)銷量爆發(fā)性增長(zhǎng),半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試在汽車電子產(chǎn)品安全中呈現(xiàn)出更大的作用。

AEC-Q101半導(dǎo)體分立器件的范圍

晶體管:BJT、MOSFET、IGBT、二*管、Diodes、Rectifier、Zeners、PIN、Varactors

光器件:LEDs、Optocoupler、Photodiodes、Phototransistors

AEC-Q101半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試的項(xiàng)目

加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試

預(yù)處理(試樣:所有樣品。)、高加速度應(yīng)力測(cè)試(試樣:77PCS)、高溫高濕反向偏壓(試樣:77PCS)、壓力鍋(試樣:77PCS)、溫度循環(huán)(試樣:77PCS)、溫度循環(huán)熱試驗(yàn)(試樣:77PCS)、溫度循環(huán)分層試驗(yàn)(試樣:77PCS)、間歇工作壽命(試樣:77PCS)、功率溫度循環(huán)(試樣:77PCS)。

加速壽命周期模擬測(cè)試

高溫反向偏壓(試樣:77PCS)、交流阻斷電壓(試樣:77PCS)、穩(wěn)態(tài)工作(試樣:77PCS)、高溫柵偏壓(試樣:77PCS)。

封裝組裝完整性測(cè)試

破壞性物理分析(試樣:2PCS)、尺寸(試樣:30PCS)、焊線拉力(*少5個(gè)器件的10 條焊線)、焊線剪切(*少5個(gè)器件的10條焊線)、晶片剪切(試樣:5PCS)、端子強(qiáng)度(試樣:30PCS)、耐溶劑性(試樣:30PCS)、耐焊性(試樣:30PCS)、熱阻抗(試樣:10PCS)、可焊性(試樣:10PCS)、晶須生長(zhǎng)評(píng)價(jià)、恒定加速度(試樣:30PCS)、變頻振動(dòng)(項(xiàng)目 12——15是密封封裝器件連續(xù)的測(cè)試:參考注釋 H)、機(jī)械沖擊(項(xiàng)目 12——15是密封封裝器件連續(xù)的測(cè)試:參考注釋 H)、氣密性(項(xiàng)目 12——15是密封封裝器件連續(xù)的測(cè)試:參考注釋 H)。

晶片制造可靠性測(cè)試

介電性(試樣:5PCS)

電性驗(yàn)證測(cè)試

外觀(試樣:所有樣品。)、應(yīng)力測(cè)試前后功能參數(shù)(試樣:所有樣品。)、參數(shù)驗(yàn)證(試樣:25PCS)、靜電放電人體模式(試樣:30PCS)、靜電放電帶電器件模式(試樣:30PCS)、鉗位感應(yīng)開(kāi)關(guān)(試樣:5PCS)、短路特性(試樣:10PCS)。

AEC-Q101半導(dǎo)體分立器件應(yīng)力測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)

AEC - Q101-001 人體模式靜電放電測(cè)試

AEC - Q101-002 機(jī)械模式靜電放電測(cè)試

AEC - Q101-003 邦線切應(yīng)力測(cè)試

AEC - Q101-004 同步性測(cè)試方法

AEC - Q101-005 帶電器件模式的靜電放電測(cè)試

AEC - Q101-006 12V 系統(tǒng)靈敏功率設(shè)備的短路可靠性描述


檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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