檢測范圍：

非氣密封裝半導體器件等。

檢測項目：

強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗等。

依據檢測標準

GB/T 4937.4-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)

JIS C60068-2-56-1996 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Cb:主要用于設備的穩(wěn)態(tài)濕熱試驗

CNS 3623-1995 環(huán)境試驗法(電氣、電子)–濕熱(穩(wěn)態(tài))試驗

BS EN 60512-11-3-2002 電子設備用機電元件.基本試驗程序和測量方法.氣候試驗.穩(wěn)態(tài)濕熱試驗

GB/T 4937.4-2012v 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第4部分：強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。