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TOF-SIMS分析檢測(cè)

報(bào)告類型: 【TOF-SIMS分析檢測(cè)】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)

報(bào)告資質(zhì): CMA;CNAS

檢測(cè)周期: 3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外)

服務(wù)地區(qū): 全國(guó),實(shí)驗(yàn)室就近分配

檢測(cè)用途: 電商平臺(tái)入駐;商超賣場(chǎng)入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn);產(chǎn)品認(rèn)證;出口通關(guān)檢驗(yàn)等

樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定

概覽

檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)報(bào)告圖片

ASTM E1-2011:報(bào)告次級(jí)離子質(zhì)譜法(SIMS)中濺射深度截面數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E1438-2011:用次級(jí)離子質(zhì)譜法(SIMS)測(cè)量深度摻雜分布界面寬度標(biāo)準(zhǔn)指南

TOF-SIMS分析檢測(cè)用途

摻雜劑與雜質(zhì)的深度剖析

薄膜的成份及雜質(zhì)測(cè)定 (金屬、電介質(zhì)、鍺化硅 、III-V族、II-V族)

超薄薄膜、淺植入的超高深度辨析率剖析

硅材料整體分析,包含B, C, O,以及N

工藝工具(離子植入)的高精度分析


檢測(cè)報(bào)告有效期

一般TOF-SIMS分析檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋,為您提供TOF-SIMS分析檢測(cè)服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

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