參考答案：

低氣壓試驗(yàn)檢測(cè)哪里可以做?檢測(cè)項(xiàng)目有哪些?檢測(cè)報(bào)告辦理費(fèi)用是多少?檢測(cè)中心擁有多年的低氣壓試驗(yàn)檢測(cè)的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，可根據(jù)您的檢測(cè)要求制定科學(xué)的檢測(cè)方法，并提供嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臋z測(cè)報(bào)告，幫助客戶了解產(chǎn)品的技術(shù)參數(shù)。

檢測(cè)項(xiàng)目：

確定產(chǎn)品在低氣壓氣候環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性

放電、介質(zhì)損耗增加、電離、局部過(guò)熱造成材料變形或電氣失效、液體、氣體外泄, 氣密失效、密封容器變形、破裂等。

適用范圍

電工電子產(chǎn)品、光學(xué)和光學(xué)儀器等。

相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(混合模式)綜合

GB/T 5170.10-2017 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第10部分:高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 11159-2010 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn).Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機(jī))綜合

相關(guān)介紹

低氣壓試驗(yàn)就是將試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)，然后將箱(室)內(nèi)氣壓降低到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值，并保持規(guī)定持續(xù)時(shí)間的試驗(yàn)。其目的主要用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。