參考答案:
瞬態(tài)熱阻測試檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)DB52/T 1104-2016 半導(dǎo)體器件結(jié)-殼熱阻瞬態(tài)測試方法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對樣品檢測的瞬態(tài)熱阻測試等項(xiàng)目進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的瞬態(tài)熱阻測試報(bào)告。
檢測項(xiàng)目
瞬態(tài)熱阻測試等。
適用范圍
二*管、功率器件、半導(dǎo)體、晶體管等。
相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)
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GB/T 14862 半導(dǎo)體集成電路封裝結(jié)到外殼熱阻測試方法
GJB 548B 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
冷卻曲線法測試原理
通過對被測器件施加一恒定的加熱功率,使被測器件的管芯溫度升高,達(dá)到熱平衡后,切斷加熱功率,不斷測試被測器件的結(jié)溫,直至達(dá)到冷態(tài)平衡,作出結(jié)溫隨時(shí)間的變化曲線,利用結(jié)溫隨時(shí)間的變化曲線計(jì)算出瞬態(tài)熱阻抗ZthU-c曲線;通過給被測器件的管殼施加兩種不同的散熱方式,作出兩條瞬態(tài)熱阻抗zthu-c曲線,將兩條瞬態(tài)熱阻抗Zthu-c)曲線繪制在同一坐標(biāo)系中,兩條瞬態(tài)熱阻抗Zthu-o曲線的分離點(diǎn)的Zthu-0即為半導(dǎo)體器件結(jié)-殼熱阻RthUc)。
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