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高純硅/半導體材料檢測

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高純硅/半導體材料檢測

檢測項目及執(zhí)行標準一覽表

序號 檢測標準 檢測對象 檢測項目
1 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法/GB/T 18907-2013 高純硅/半導體材料 選區(qū)電子衍射

檢測時間周期

一般3-10天出報告,有的項目1天出報告,具體根據(jù)高純硅/半導體材料檢測項目而定。

檢測報告有效期

一般高純硅/半導體材料檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。

檢測流程步驟

1、電話溝通、確認需求;

2、推薦方案、確認報價;

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報告、售后服務;

6、如需加急、優(yōu)先處理;

檢測流程步驟

溫馨提示:以上關(guān)于《高純硅/半導體材料檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用,百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國,更多檢測需求請咨詢客服。

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