標準分類中，二碲化鉬遷移率涉及到金屬材料試驗、絕緣流體、半導體材料、空氣質量、物理學、化學、建筑物的防護、網(wǎng)絡、生物學、植物學、動物學。

在中國標準分類中，二碲化鉬遷移率涉及到半金屬及半導體材料分析方法、金屬物理性能試驗方法、化合物半導體材料、環(huán)境衛(wèi)生、物質成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、工業(yè)防塵防毒技術、建筑物理、半導體二*管、通信網(wǎng)技術體制、加工工藝綜合、基礎標準與通用方法、半導體分立器件綜合。

質檢總局，關于二碲化鉬遷移率的標準

GB/T 4326-2006 非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測量方法

GB/T 4326-1984 非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數(shù)測量方法

行業(yè)標準-電子，關于二碲化鉬遷移率的標準

SJ/T 11488-2015 半絕緣砷化鎵電阻率、霍爾系數(shù)和遷移率檢測方法

SJ 3244.1-1989 砷化鎵和磷化銦材料霍爾遷移率和載流子濃度的測量方法

，關于二碲化鉬遷移率的標準

GOST R ISO 28439-2015 工作場所的大氣. 超細氣溶膠/納米氣溶膠的特性描述. 用差示電遷移率分析系統(tǒng)測定粒徑分布和數(shù)量濃度

GOST R ISO 28439-2015 工作場所的大氣. 超細氣溶膠/納米氣溶膠的特性描述. 用差示電遷移率分析系統(tǒng)測定粒徑分布和數(shù)量濃度

韓國標準，關于二碲化鉬遷移率的標準

KS I ISO 28439-2013 工作場所空氣.超細懸浮微粒/納米懸浮微粒的描述.用差示電遷移率分析系統(tǒng)測定粒徑分布和數(shù)量濃度

KS I ISO 28439-2013 工作場所空氣.超細懸浮微粒/納米懸浮微粒的描述.用差示電遷移率分析系統(tǒng)測定粒徑分布和數(shù)量濃度

KS B 0720-1-2001 振動及沖擊.機械遷移率實驗測定.第1部分:基本術語定義及變換器

KS B 0720-2-2001 振動及沖擊.機械遷移率實驗測定.第2部分:單點加振和利用振動器的測定

KS B 0720-1-2001 振動及沖擊.機械遷移率實驗測定.第1部分:基本術語定義及變換器

KS B 0720-5-2001 振動及沖擊.機械遷移率實驗測定.第5部分:使用未附著在構造物上的勵磁機測定沖擊勵磁

美國材料與試驗協(xié)會，關于二碲化鉬遷移率的標準

ASTM E2865-2012 測量納米生物材料電泳遷移率和電動電勢的標準指南

ASTM F76-2008 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數(shù)及霍爾遷移率的試驗方法

ASTM F76-2008(2016) 測量電阻率和霍爾系數(shù)和測定單晶半導體中霍爾遷移率的標準試驗方法

ASTM E1470-1992(2006) 電泳遷移率法表征蛋白質特性的標準試驗方法

ASTM F76-1986(2002) 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數(shù)及霍爾遷移率的試驗方法

ASTM F76-1986(1996)e1 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數(shù)及霍爾遷移率的試驗方法

法國標準化協(xié)會，關于二碲化鉬遷移率的標準

NF X43-133-2011 工作場所大氣.超細懸浮微粒/毫微懸浮顆粒表征.使用微分遷移率分析系統(tǒng)測定粒度分布和計數(shù)濃度.

NF Z82-691-2001 專用綜合服務網(wǎng)(PISN).無繩終端遷移率(CTM).定位操作服務.服務說明

NF Z82-692-2001 專用綜合業(yè)務網(wǎng)(PISN).無繩終端遷移率(CTM).定位操作服務.功能能力和信息流

英國標準學會，關于二碲化鉬遷移率的標準

BS EN ISO 28439-2011 工作場所空氣.工作場所超細懸浮微粒/納米懸浮微粒的描述.用差示電遷移率分析系統(tǒng)測定粒徑分布和數(shù)量濃度

德國標準化學會，關于二碲化鉬遷移率的標準

DIN EN 15657-1-2009 建筑物和建筑元件的聲學特性.來自建筑設備的空氣傳遞或結構傳遞的聲音的實驗室測量.第1部分:設備遷移率大大高于接收遷移率的簡化情況,以漩渦浴池為例.英文版本DIN EN 15657-1-2009-10

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。