GB/T 39343-2020.Processor device single event effects experiment design and procedure for aerospace.
1范圍
GB/T 39343規(guī)定了宇航用處理器器件的單粒子試驗設計與程序。
GB/T 39343適用于宇航用處理器器件的單粒子試驗設計和過程控制,其他領域應用可參照執(zhí)行。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB 18871-2002電離輻射防護與輻射源安全基本標準
3術語和定義、縮略語.
3.1 術語和定義
下列術語和定義適用于本文件。
3.1.1
處理器器件 processor device
內(nèi)部含有處理器的器件,在正常的使用中可取指并執(zhí)行指令的器件。
3.1.2
單粒子效應 single event effects; SEE
描述單粒子事件中的許多效應的術語。
3.1.3
單粒子事件 single event phenomena ;SEP
由單個高能粒子撞擊引發(fā)的半導體器件一系列響應的統(tǒng)稱,包括中子、質(zhì)子引起的效應。
3.1.4
單粒子翻轉(zhuǎn) single event upset;SEU
單個高能粒子作用于器件,引發(fā)器件的邏輯狀態(tài)改變的一種輻射效應。
3.1.5
單粒子鎖定 single event latch up;SEL
單個高能粒子將器件內(nèi)的可控硅觸發(fā)開啟,形成低電阻、大電流狀態(tài)。
3.1.6
單粒子功能中斷 single event functional interrupt;SEFI
單個高能粒子作用于器件,使被試器件功能喪失或紊亂，只有通過復位和重新配置才能恢復器件功能。
3.1.7
線性能量傳輸 linear energy transfer;LET
粒子沿人射方向在材料中單位長度沉積的能量。

檢測流程步驟

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