GB 7287.9-1987.Measuriog method for norm al total emittance of infrared beater.
2.2.7輻射測(cè)溫儀， 精度不低于+ 1 %。
注:由探測(cè)器、放大系統(tǒng)及毫伏表組成的探測(cè)系統(tǒng)也可由絕對(duì)輻射功事計(jì)代替，其精度不低于土2 %。.
2.8 參比涂料
2.8.1參比徐料應(yīng)具有下列性質(zhì):
a.化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定，在測(cè)試溫度范圍內(nèi)涂覆于各種加熱器表面均不發(fā)生化學(xué)變化;
b. 當(dāng)厚度不小于0.2mm時(shí)，對(duì)1 ~ 25μm的紅外輻射不透明;
c.全法向發(fā) 射率在測(cè)試溫度范圍內(nèi)的平均溫度變化率小于0.03x 10 -2/K;
d. 全法向發(fā)射率大于0.8，光譜輻射特性近似灰體。
2.3.2所給 參比涂料在測(cè)試溫度范圍內(nèi)的全法向發(fā)射率數(shù)據(jù)，其精度應(yīng)不低于土4 %。
3測(cè)量條件
a.環(huán)境溫度20士5 C。
b.相對(duì) 濕度不大于75%。
c.測(cè)量 應(yīng)在防塵防震的實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行。
4測(cè)量步驟
4.1對(duì)待測(cè) 試樣施加額定工作電壓，待溫度穩(wěn)定后，用輻射測(cè)溫儀測(cè)定試樣表面溫度分布，并確定其中心部位的等溫區(qū)以及等溫區(qū)的工作溫度，然后斷電冷卻至室溫。
4.2將試樣固定在試樣支架上，調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)達(dá)到下列要求: .
a.探測(cè)器光敏面與調(diào)制盤平面，光欄平面及試樣輻射面相互平行且共軸;
b.有效限束 光欄對(duì)探測(cè)器所張的視場(chǎng)角不大于5.7°;
c.由有效限束光欄所決定的試樣待測(cè)面積位于等溫區(qū)內(nèi)并小于等溫區(qū)面積。
4.3將控溫儀熱電偶焊接或粘接于待測(cè)面附近(在等溫區(qū)內(nèi))。用控溫儀將待測(cè)表面溫度控制在其工作溫度。待溫度穩(wěn)定后，測(cè)量放大系統(tǒng)輸出的試樣與調(diào)制盤差分信號(hào)電壓U,.
4.4關(guān)閉控溫儀， 試樣冷卻至室溫后，在等溫區(qū)內(nèi)均勻涂覆參比涂料，涂覆厚度為0.2mm，涂覆方法與獲取其發(fā)射率數(shù)據(jù)的原測(cè)較方法中的一致。然后開啟控溫儀(設(shè)定溫度與4.3條相同)。溫度穩(wěn)定后，測(cè)量放大系統(tǒng)輸出的參比徐料與調(diào)制盤差分信號(hào)電壓U.。
4.5移開試樣，測(cè)較放大系統(tǒng)輸出的背景與調(diào)制盤差分信號(hào)電壓Uw。
4.6用輻射測(cè)溫儀測(cè)量等溫區(qū)的表觀工作溫度Tr。
5測(cè)量結(jié)果計(jì)算

檢測(cè)流程步驟

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