GB/T 5170.5-2016.
1范圍
GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”)的檢驗(yàn)項(xiàng)目,檢驗(yàn)用儀器及要求,檢驗(yàn)負(fù)載,檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)結(jié)果,檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
GB/T 5170.5適用于對(duì)GB/T 2423,3、GB/T 2423.4,GB/T 2423.16、GB/T 2423.50所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法﹐試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)︰第⒉部分:試驗(yàn)方法﹐試驗(yàn)Db交變濕熱(12 h+12 h循環(huán))
GB/T 2423.16電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)﹑第⒉部分:試驗(yàn)方法―試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉
GB/T 2423.50環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法﹐試驗(yàn)Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)GB/T 2424.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
GB/T 5170.1—2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法﹑第1部分:總則GB 12348-2008工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準(zhǔn)
術(shù)語(yǔ)和定義
GB/T 5170.1-—2016界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。

檢測(cè)流程步驟

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