GB/T 15478—2015.
1范圍
GB/T 15478規(guī)定了壓力傳感器(以下簡稱傳感器)性能的試驗條件、試驗的一般規(guī)定、試驗項目及試驗方法.數(shù)據計算及處理。
GB/T 15478適用于壓力傳感器(包括絕壓傳感器﹑差壓傳感器、表壓傳感器和負壓傳感器)。
2規(guī)范性引用文件
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GB/T 2423.1—2008電工電子產品環(huán)境試驗︰第⒉部分:試驗方法試驗A:低溫GB/T 2423.2--2008電工電子產品環(huán)境試驗
第⒉部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 2423.3——2006電工電子產品環(huán)境試驗
第⒉部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.5—-1995電工電子產品環(huán)境試驗
第⒉部分:試驗方法試驗Ea和導則:沖擊
GB/T 2423.10--2008電工電子產品環(huán)境試驗
第⒉部分:試驗方法試驗Fc:振動(正弦)
GB/T 2423.15—2008 電工電子產品環(huán)境試驗﹐第⒉部分:試驗方法﹐試驗Ga和導則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.17~—2008
電工電子產品環(huán)境試驗第⒉部分:試驗方法試驗Ka:鹽霧
GB/T 2423.21—2008電工電子產品環(huán)境試驗﹐第⒉部分:試驗方法﹐試驗M:低氣壓
GB/T 2423.24---2013電工電子產品環(huán)境試驗第⒉部分:試驗方法﹐試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射及其試驗導則
GB/T 2423.25--2008電工電子產品環(huán)境試驗﹑第⒉部分:試驗方法﹐試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26—2008電工電子產品環(huán)境試驗第⒉部分:試驗方法試驗Z/BM;高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T2423.27—2005電工電子產品環(huán)境試驗︰第⒉部分:試驗方法︰試驗Z/AMD;低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
GB/T 2423.37—2006電工電子產品環(huán)境試驗第⒉部分;試驗方法﹑試驗L:沙塵試驗GB/T 8170—2008數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定
GJB 150.17A—2009*用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第17部分:噪聲試驗
3試驗條件
3.1環(huán)境條件
3.1.1參比大氣條件

檢測流程步驟

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