標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于校準(zhǔn)放射性表面污染監(jiān)測(cè)儀的低能β和γ參考源的核素、結(jié)構(gòu)形式、特性及技術(shù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測(cè)儀的能量低于0??15MeV的β粒子和能量低于1.5MeV的光子的參考源(除3H以外)。所涉及的參考源主要用于校準(zhǔn)可測(cè)量具有電子俘獲或同質(zhì)異能躍遷衰變核素的表面污染監(jiān)測(cè)儀的儀器效率。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12128.2-1999

標(biāo)準(zhǔn)名稱：用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測(cè)儀的參考源 第二部分：能量低于0.15MeV 的電子和能量低于1.5MeV 的光子

英文名稱：Reference sources for the calibration of surface contamination monitors--Part 2:Electrons of energy less than 0.15MeV and photons of energy less than 1.5MeV

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：1999-01-02

實(shí)施日期：2000-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：能源、核技術(shù)>>輻射防護(hù)與監(jiān)測(cè)>>F74輻射防護(hù)檢測(cè)與評(píng)價(jià)

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>17.240輻射測(cè)量

起草單位：中國輻射防護(hù)研究院

歸口單位：全國核能標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局

檢測(cè)流程步驟

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