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GB/T15861-1995離子束蝕刻機通用技術(shù)條件

檢測報告圖片樣例

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了離子束蝕刻機的術(shù)語、產(chǎn)品分類、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及包裝、運輸、貯存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于物理濺射腐蝕作用的通用離子束蝕刻機。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15861-1995

標(biāo)準(zhǔn)名稱:離子束蝕刻機通用技術(shù)條件

英文名稱:Generic specification of ion beam etching system

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

發(fā)布日期:1995-01-02

實施日期:1996-08-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>電子工業(yè)生產(chǎn)設(shè)備>>L97加工專用設(shè)備

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):電子學(xué)>>31.200集成電路、微電子學(xué)

替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 15861-2012代替

起草單位:電子部長沙半導(dǎo)體工藝設(shè)備所

歸口單位:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)

發(fā)布單位:國家技術(shù)監(jiān)督局

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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