標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 12085.18-2011

標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)

英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 18:Combined damp heat and low internal pressure

標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-06-01

實(shí)施日期：2011-11-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備

起草單位：上海理工大學(xué)、寧波光學(xué)股份有限公司、江南永新光學(xué)有限公司、南京東利來光電實(shí)業(yè)有限公司等

歸口單位：全國(guó)光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程步驟

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