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GB/T15757-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷術(shù)語、定義及參數(shù)

檢測報(bào)告圖片樣例

標(biāo)準(zhǔn)簡介:本標(biāo)準(zhǔn)確定了有關(guān)表面缺陷的術(shù)語,允許表面缺陷的程度及測量表面缺陷方法的技術(shù)規(guī)范等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于技術(shù)文件、技術(shù)圖紙和科技出版物等。本標(biāo)準(zhǔn)的定義不涉及表面粗糙度和表面波紋度。本標(biāo)準(zhǔn)沒有指出是否要進(jìn)行表面缺陷的評定,這取決于具體的應(yīng)用或表面的功能。對于特殊的應(yīng)用和制造工藝,在必要情況下可附加專用的術(shù)語和定義。這些術(shù)語和定義將在相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定。幾種特殊表面缺陷將在其他標(biāo)準(zhǔn)中定義。

標(biāo)準(zhǔn)號:GB/T 15757-2002

標(biāo)準(zhǔn)名稱:產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS) 表面缺陷 術(shù)語、定義及參數(shù)

英文名稱:Geometrical Product Specification (GPS)--Surface imperfections--Terms,definitions and parameters

標(biāo)準(zhǔn)類型:國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2002-07-01

實(shí)施日期:2003-01-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(CCS):機(jī)械>>機(jī)械綜合>>J04基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(ICS):計(jì)量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>長度和角度測量>>17.040.20表面特征

替代以下標(biāo)準(zhǔn):GB/T 15757-1995

起草單位:中國機(jī)械科學(xué)研究院、時代集團(tuán)公司

歸口單位:全國產(chǎn)品尺寸和幾何技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

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