標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線光電子能譜(XPS，X-rayPhotoelectronSpectroscopy或ESCA，ElectronSpectroscopyforChemicalAnalysis)的一般表面分析方法以及相關(guān)的表面化學(xué)分析術(shù)語的含義，適用于X射線光電子能譜儀。

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 19500-2004

標(biāo)準(zhǔn)名稱：X-射線光電子能譜分析方法通則

英文名稱：General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method

標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2004-04-30

實施日期：2004-12-01

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N33電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器

國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：計量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測量>>17.180.30光學(xué)測量儀器

起草單位：北京大學(xué)化學(xué)與分子工程學(xué)院

歸口單位：全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。