- N +

GB/T15651.4-2017半導(dǎo)體器件分立器件第5-4部分:光電子器件半導(dǎo)體激光器

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:GB/T 15651的本部分規(guī)定了半導(dǎo)體激光器的基本額定值、特性及測(cè)試方法。

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB/T 15651.4-2017

標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導(dǎo)體激光器

英文名稱:Semiconductor devices—Discrete devices—Part 5-4:Optoelectronic devices—Semiconductor lasers

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):推薦性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2017-05-31

實(shí)施日期:2017-12-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L51激光器件

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(ICS):電子學(xué)>>31.260光電子學(xué)、激光設(shè)備

起草單位:中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所

歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78)

發(fā)布單位:國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。

返回列表
上一篇:GB/T19464-2014烷基糖苷
下一篇:GB/T11848.1-1989鈾礦石濃縮物中鈾的測(cè)定硫酸亞鐵還原/重鉻酸鉀滴定法