X射線無損探傷是檢測(cè)復(fù)合材料損傷的常用方法。目前常用的是膠片照相法,它是檢查復(fù)合材料中孔隙和夾雜物等體積型缺陷的優(yōu)良方法”,對(duì)增強(qiáng)劑分布不勻也有一定的檢出能力,因此是一種不可缺少的檢測(cè)手段。該方法檢測(cè)分層缺陷很困難,裂紋一般只有當(dāng)其平面與射線束大致平行時(shí)方能檢出,所以該法通常只能檢測(cè)與試樣表面垂直的裂紋,所以材料檢測(cè)機(jī)構(gòu)一般將其與超聲反射法互補(bǔ)。隨著計(jì)算機(jī)的發(fā)展,材料已經(jīng)引進(jìn)了X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)技術(shù),其在檢測(cè)效率、經(jīng)濟(jì)、表現(xiàn)力、遠(yuǎn)程傳送、方便實(shí)用等方面都具有更好的表現(xiàn),能為顧客提供更準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
射線探傷試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和方法:
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) | |
JB/T 4730.2- 2005 | 承壓設(shè)備無損檢測(cè)第二部分: X射線檢測(cè) |
檢測(cè)流程步驟
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