GB/T 41182—2021 盲文點(diǎn)顯器通用技術(shù)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容是什么？檢測(cè)報(bào)告如何辦理呢？百檢為您提供一站式的檢測(cè)服務(wù)。

辦理一份檢測(cè)報(bào)告需要通過(guò)寄樣至實(shí)驗(yàn)室按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行后得到結(jié)果數(shù)據(jù)，百檢網(wǎng)在全國(guó)范圍內(nèi)有眾多合作實(shí)驗(yàn)室，CMA、CNAS資質(zhì)齊全，報(bào)告真實(shí)有效。《GB/T 41182—2021 盲文點(diǎn)顯器通用技術(shù)規(guī)范》中規(guī)定了相關(guān)產(chǎn)品的檢測(cè)項(xiàng)目、方法及相關(guān)數(shù)值標(biāo)準(zhǔn)，如果您有產(chǎn)品需要依據(jù)《GB/T 41182—2021 盲文點(diǎn)顯器通用技術(shù)規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)，百檢網(wǎng)可以為您安排工程師對(duì)接一對(duì)一服務(wù)。

GB/T 41182—2021.

1范圍

GB/T 41182規(guī)定了盲文點(diǎn)顯器的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志﹑包裝、運(yùn)輸、貯存。本文件適用于盲文點(diǎn)顯器,其他以盲文點(diǎn)顯為核心功能的便攜式電子產(chǎn)品可參照使用。

2規(guī)范性引用文件

下列Gxc件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。

GB/T191包裝儲(chǔ)運(yùn)示標(biāo)志

GB/T 2423.1——2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫

GB/T 2423.2——2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)﹑第⒉部分:試驗(yàn)方法﹑試驗(yàn)B:高溫GB/T 2423.3環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法惇試驗(yàn)Cab;恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.7—2018環(huán)境試驗(yàn)﹑第⒉部分:試驗(yàn)方法︰試驗(yàn)Ec:粗率操作造成的沖擊(主要用于設(shè)備型樣品)

GB/T 2423.10環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)GB/T 4857.2包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第⒉部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理GB/T 4857.5包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法

GB 4943.1信息技術(shù)設(shè)備安全第1部分:通用要求

GB/T 5080.7設(shè)備可靠性試驗(yàn)﹑恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案GB/T 6107使用串行二進(jìn)制數(shù)據(jù)交換的數(shù)據(jù)終端設(shè)備和數(shù)據(jù)電路終接設(shè)備之間的接口

GB/T 9254——2008信息技術(shù)設(shè)備的無(wú)線電騷擾限值和測(cè)量方法

GB/T 15720——2008中國(guó)盲文

GB/T 17618 信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測(cè)量方法GB/T18455包裝回收標(biāo)志

GB/T 18787.1——2015 信息技術(shù)電子書(shū)第1部分:設(shè)備通用規(guī)范

GB/T 25000(所有部分)系統(tǒng)與軟件工程﹑系統(tǒng)與軟件質(zhì)量要求和評(píng)價(jià)(SQuaRE)

GB/T 26125電子電氣產(chǎn)品﹐六種限用物質(zhì)(鉛,汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚)的測(cè)定GB/T 26572電子電氣產(chǎn)品中限用物質(zhì)的限量要求

SJ/T 11364 電子電氣產(chǎn)品有害物質(zhì)限制使用標(biāo)識(shí)要求

ISO/IEC 11518(所有部分)信息技術(shù)﹒高性能并行接口(Information technology—High-per-formance parallel interface)

注:GB/T 18235,1—2000信息技術(shù)高性能并行接口﹑第Ⅰ部分:機(jī)械、電氣及信號(hào)協(xié)議規(guī)范(HIPPI-PH)

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檢測(cè)流程步驟

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