GB/T 18220-2012 信息技術(shù)手持式信息處理設(shè)備通用規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容是什么？檢測(cè)報(bào)告如何辦理呢？百檢為您提供一站式的檢測(cè)服務(wù)。
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GB/T 18220-2012.
1范圍
GB/T 18220規(guī)定了手持式信息處理設(shè)備的要求,試驗(yàn)方法﹑檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志,包裝、運(yùn)輸﹑儲(chǔ)存等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的手持式信息處理設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱產(chǎn)品)的設(shè)計(jì).生產(chǎn),檢驗(yàn)﹑試驗(yàn)等。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 191包裝儲(chǔ)運(yùn)示標(biāo)志
GB/T 1988信息技術(shù)信息交換用七位編碼字符集GB 2312信息交換用漢字編碼字符集基本集
GB/T 2421.1—-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南GB/T 2422—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語
GB/T 2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法﹐試驗(yàn)A:低溫GB/T 2423.2——2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第⒉部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T2423.3—2006
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第⒉部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.5—1995
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第⒉部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊
GB/T 2423.6--1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第⒉部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則:碰撞
GB/T 2423.8——1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第⒉部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T 2423.10--2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第⒉部分:試驗(yàn)方法︰試驗(yàn)Fc:振動(dòng)(正弦)GB/T 2828.1計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部分:按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃GB/T 4857.2包裝運(yùn)輸包裝件基本試驗(yàn)第⒉部分:溫濕度調(diào)節(jié)處理
GB/T 4857.5—1992包裝運(yùn)輸包裝件跌落試驗(yàn)方法
GB 4943.1 信息技術(shù)設(shè)備安全第1部分:通用要求
GB 5007.1 信息技術(shù)漢字編碼字符集(基本集）24點(diǎn)陣字型
GB 5007.2信息技術(shù)漢字編碼字符集(輔助集）24點(diǎn)陣字型宋體
GB/T 5080.7︰設(shè)備可靠性試驗(yàn)︰恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案GB 5199信息技術(shù)漢字編碼字符集(基本集）15×16點(diǎn)陣字型
GB/T 5271.14信息技術(shù)﹑詞匯第14部分:可靠性、可維護(hù)性與可用性
GB/T 6107使用串行二進(jìn)制數(shù)據(jù)交換的數(shù)據(jù)終端設(shè)備和數(shù)據(jù)電路終接設(shè)備之間的接口GB 6345.1信息技術(shù)漢字編碼字符集(基本集）32點(diǎn)陣字型第1部分;宋體
GB 6345.2信息技術(shù)漢字編碼字符集(基本集)32點(diǎn)陣字型第⒉部分:黑體GB 6345.3信息技術(shù)漢字編碼字符集(基本集)32點(diǎn)陣字型第3部分:楷體
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