表面電子能譜檢測報告如何辦理？檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴(yán)格按照表面電子能譜檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。
涉及表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)有55條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，表面電子能譜涉及到分析化學(xué)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，表面電子能譜涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、化學(xué)、化學(xué)助劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法。
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 41073-2021表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報告的基本要求
GB/T 41064-2021表面化學(xué)分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中深度剖析濺射速率的方法
GB/T 41072-2021表面化學(xué)分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南
GB/T 36504-2018印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 32998-2016表面化學(xué)分析俄歇電子能譜荷電控制與校正方法報告的規(guī)范要求
GB/T 32565-2016表面化學(xué)分析俄歇電子能譜（AES）數(shù)據(jù)記錄與報告的規(guī)范要求
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 30702-2014表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
GB/T 29558-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 強度標(biāo)的重復(fù)性和一致性
GB/T 29556-2013表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
GB/T 28893-2012表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結(jié)果所需的信息
GB/T 28632-2012表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
GB/T 25187-2010表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
GB/Z 32494-2016表面化學(xué)分析俄歇電子能譜化學(xué)信息的解析
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
ISO 17109-2022表面化學(xué)分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜中測定濺射速率的方法
ISO 20903-2019表面化學(xué)分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結(jié)果時所需的信息
ISO/TR 18394-2016表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué). 提取化學(xué)信息
ISO/TR 18394-2016表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué). 提取化學(xué)信息
ISO 18554:2016表面化學(xué)分析.電子光譜法.用X射線光電子能譜法分析的材料中X射線非預(yù)期降解的評定和校正程序
ISO 18554-2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
ISO 19830-2015表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求
ISO 19830:2015表面化學(xué)分析 - 電子光譜 - X射線光電子能譜峰值擬合的*低報告要求
ISO 17109-2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
ISO 17109:2015表面化學(xué)分析 - 深度分析 - X射線光電子能譜法中的濺射速率測定方法 俄歇電子能譜和二次離子質(zhì)譜法使用單層和多層薄膜的濺射深度分析
ISO 18118:2015表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.均勻材料定量分析用實驗測定相對靈敏度因子的使用指南
ISO 16242-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報告數(shù)據(jù)
ISO 16242:2011表面化學(xué)分析——俄歇電子能譜（AES）中數(shù)據(jù)的記錄和報告
ISO 20903:2011表面化學(xué)分析——俄歇電子能譜和X射線光電子能譜——報告結(jié)果時用于確定峰值強度和所需信息的方法
ISO 29081:2010表面化學(xué)分析——俄歇電子能譜；報告用于充電控制和充電校正的方法
ISO 29081-2010表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報告法
ISO 18516:2006表面化學(xué)分析——俄歇電子能譜和X射線光電子能譜——橫向分辨率的測定
ISO 20903:2006表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.報告結(jié)果時確定峰值強度和所需信息的方法
ISO 24236:2005表面化學(xué)分析——俄歇電子能譜；強度標(biāo)度的重復(fù)性和恒常性
ISO/TR 19319-2003表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
ISO/TR 19319:2003表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.用分析儀觀察橫向分辨率 分析面積和樣品面積的測定
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
BS ISO 18554-2016表面化學(xué)分析. 電子光譜. 采用X射線光電子能譜分析法對材料進行分析的X射線的意外降解的識別, 評估和修正程序
BS ISO 19830-2015表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的*低報告要求
BS ISO 17109-2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS ISO 17109-2015表面化學(xué)分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質(zhì)譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
BS ISO 16242-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報告數(shù)據(jù)(AEC)
BS ISO 16242-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)的記錄和報告數(shù)據(jù)(AEC)
BS ISO 20903-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測定峰強度的方法和報告結(jié)果要求的信息
BS ISO 20903-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X-射線光電光譜學(xué).測定峰強度的方法和報告結(jié)果要求的信息
BS ISO 29081-2010表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜法.電荷控制和電荷調(diào)整用報告法
，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
KS D ISO 19319-2005(2020)表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
KS D ISO 15471-2005(2020)表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜學(xué)－選定儀器性能參數(shù)的描述
KS D ISO 18118-2005(2020)表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗測定的相對靈敏度因子的使用指南
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
NF X21-072-2012表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報告數(shù)據(jù)
NF X21-058-2006表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜學(xué)和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結(jié)果時需要的信息
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
JIS K0167-2011表面化學(xué)分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學(xué).勻質(zhì)材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
韓國標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
KS D ISO 19319-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
KS D ISO 19319-2005表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于表面電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
AS ISO 19319-2006表面化學(xué)分析．Augur電子能譜法和X射線光電子光譜法．分析員對橫向分辨率；分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
AS ISO 18118-2006表面化學(xué)分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質(zhì)材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數(shù)使用指南
檢測流程步驟
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