塊電子顯微鏡檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照塊電子顯微鏡檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)有461條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，塊 電子顯微鏡涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、計(jì)量學(xué)和測(cè)量綜合、詞匯、空氣質(zhì)量、焊接、釬焊和低溫焊、教育、電子元器件組件、醫(yī)療設(shè)備、光電子學(xué)、激光設(shè)備、電子元器件綜合、金屬材料試驗(yàn)、長(zhǎng)度和角度測(cè)量、技術(shù)制圖、表面處理和鍍涂、電子顯示器件、復(fù)合增強(qiáng)材料、物理學(xué)、化學(xué)、建筑材料、橡膠和塑料用原料、流體動(dòng)力系統(tǒng)、犯罪行為防范、航空航天制造用材料、飼料、集成電路、微電子學(xué)、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件、液壓液、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、攝影技術(shù)、鋼鐵產(chǎn)品、半導(dǎo)體分立器件、陶瓷、核能工程、涂料和清漆、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、紙和紙板、涂料配料、紡織纖維、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、半導(dǎo)體材料、危險(xiǎn)品防護(hù)。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，塊 電子顯微鏡涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、放大鏡與顯微鏡、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、、計(jì)量綜合、電磁計(jì)量、教育、學(xué)位、學(xué)銜、技術(shù)管理、化學(xué)計(jì)量、檢驗(yàn)專用設(shè)備、教學(xué)專用儀器、記錄儀器及光線示波器、光學(xué)設(shè)備、電子元件綜合、溫度與壓力儀表、化學(xué)試劑綜合、一般與顯微外科器械、醫(yī)療器械綜合、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、半導(dǎo)體發(fā)光器件、稀有金屬及其合金分析方法、光電子器件綜合、金相檢驗(yàn)方法、公共醫(yī)療設(shè)備、材料防護(hù)、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、金屬化學(xué)分析方法綜合、油頁(yè)巖、混凝土、集料、灰漿、砂漿、犯罪鑒定技術(shù)、環(huán)境衛(wèi)生、物理污染分析測(cè)試方法、氣體介質(zhì)與放射性物質(zhì)采樣方法、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測(cè)儀器、畜禽飼料與添加劑、微電路綜合、醫(yī)用光學(xué)儀器設(shè)備與內(nèi)窺鏡、燃油系統(tǒng)及其附件、火工產(chǎn)品、液壓與氣動(dòng)裝置、炭黑、物理學(xué)與力學(xué)、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、基礎(chǔ)學(xué)科綜合、光學(xué)儀器綜合、大氣、水、土壤環(huán)境質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、鋼鐵與鐵合金分析方法、半導(dǎo)體分立器件綜合、光學(xué)計(jì)量、特種陶瓷、化學(xué)、勘探采礦和工藝監(jiān)測(cè)核儀器、半導(dǎo)體集成電路、量具與量?jī)x、造紙綜合、化妝品、紙、衛(wèi)生、安全、勞動(dòng)保護(hù)、油、氣處理設(shè)備、元素半導(dǎo)體材料、建材原料礦。

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JB/T 5480-1991電子顯微鏡用光闌

JB/T 5481-1991電子顯微鏡用燈絲

JB/T 8230.12-1999顯微鏡.鏡筒滑塊和鏡筒槽的連接尺寸

JB/T 9352-1999透射電子顯微鏡試驗(yàn)方法

JB/T 6842-1993掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法

JB/T 5383-1991透射電子顯微鏡技術(shù)條件

JB/T 5384-1991掃描電子顯微鏡.技術(shù)條件

JB/T 5584-1991透射電子顯微鏡放大率測(cè)試方法

JB/T 5585-1991透射電子顯微鏡分辨力測(cè)試方法

JB/T 5586-1991透射電子顯微鏡分類和基本參數(shù)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

ISO/TS 21383:2021微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測(cè)量用掃描電子顯微鏡的鑒定

ISO/CD 25498:2023微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析

ISO 8036:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微鏡浸液

ISO 15932:2013微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯

ISO/CD 19214:2023微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測(cè)定線狀晶體表觀生長(zhǎng)方向的方法

ISO 22493:2008微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯

ISO 16700:2004微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南

ISO 16700:2016微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南

ISO 25498:2010微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

ISO 25498:2018微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

ISO 19214:2017微束分析. 分析電子顯微術(shù). 采用透射電子顯微鏡術(shù)測(cè)定絲狀晶體顯著增長(zhǎng)方向的方法

ISO 11884-2:2007光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的*低要求.第2部分:高性能顯微鏡

ISO 11884-1:2006光學(xué)和光子學(xué).體視顯微鏡的*低要求.第1部分:通用體視顯微鏡

ISO 23729:2022表面化學(xué)分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復(fù)程序指南

ISO/TS 24597:2011微光束分析.掃描電子顯微鏡檢查法.圖像清晰度評(píng)價(jià)法

ISO 21466:2019微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評(píng)定臨界尺寸的方法

ISO 9220:1988金屬覆蓋層 鍍層厚度測(cè)量 掃描電子顯微鏡法

ISO 9220:2022金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

ISO 19012-2:2009光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡物鏡名稱.第2部分:色差修正

ISO 23420:2021微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測(cè)定方法

ISO 13794:1999環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 間接傳遞電子顯微鏡法

ISO 10312:1995環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接傳遞電子顯微鏡法

ISO 5061:2002動(dòng)物飼料.蓖麻油種子殼的測(cè)定.顯微鏡法

ISO 21363:2020納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案

ISO 13794:2019環(huán)境空氣 - 石棉纖維的測(cè)定 - 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

ISO 10312:2019環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

ISO 19749:2021納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

ISO 21222:2020表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點(diǎn)JKR法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序

ISO/WD TR 23683:2023表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對(duì)半導(dǎo)體器件中載流子濃度進(jìn)行實(shí)驗(yàn)量化的指南

ISO 19012-1:2007光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡物鏡標(biāo)號(hào).第1部分:視野/平面圖平整度

ISO 22493:2014微束分析. 掃描電子顯微術(shù). 詞匯

ISO 24639:2022微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進(jìn)行元素分析的能量標(biāo)度校準(zhǔn)程序

ISO/CD 20263:2023微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法

ISO/TR 14880-5:2010光學(xué)與光子學(xué).顯微鏡頭列陣.第5部分:測(cè)試指南

ISO 14966:2019環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡法

ISO/TS 10797:2012納米技術(shù).利用透射電子顯微鏡法進(jìn)行單壁碳納米管特征探測(cè)

ISO/TS 22292:2021納米技術(shù).用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像

ISO 20263:2017微束分析 - 分析透射電子顯微鏡 - 分層材料橫截面圖像中界面位置的測(cè)定方法

ISO 10936-1:2017光學(xué)和光子學(xué).手術(shù)顯微鏡.第1部分:要求和測(cè)試方法

ISO 14966:2002環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒的數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡檢查法

ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第1部分:詞匯.技術(shù)勘誤2

ISO 14880-1:2016光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第1部分:詞匯和常規(guī)屬性

ISO 29301:2017微光束分析.分析電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法

ISO 14880-2:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗(yàn)辦法

ISO/FDIS 29301:2023微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

ISO 29301:2023微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

ISO 14966:2002/cor 1:2007環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡法.技術(shù)勘誤1

ISO 29301:2010微光束分析.分析的透射電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大的方法

ISO 14880-4:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第4部分:幾何學(xué)特征的試驗(yàn)辦法

ISO 16000-27:2014室內(nèi)空氣. 第27部分: 采用SEM(掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法)對(duì)表面纖維落塵的測(cè)定

ISO 17751-2:2014紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動(dòng)物纖維及其混紡品的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

ISO 17751-2:2023紡織品羊絨、羊毛、其他特種動(dòng)物纖維及其混合物的定量分析第2部分:掃描電子顯微鏡法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JIS K 0132:1997掃描電子顯微鏡總則

JIS K 3850-1:2006空中纖維分子的測(cè)定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法

JIS K 3850-1:2000空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法

JIS K 0149-1:2008微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準(zhǔn)圖像放大指南

JIS K 3850-3:2000空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第3部分:間接傳遞透射電子顯微鏡法

JIS K 3850-2:2000空氣中纖維粒子的測(cè)量方法.第2部分:直接傳遞透射電子顯微鏡法

JIS R 1633:1998掃描電子顯微鏡觀察用精細(xì)陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法

JIS R 1683:2007用原子力顯微鏡方法測(cè)定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗(yàn)方法

JIS R 1683:2014用原子力顯微鏡方法測(cè)定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗(yàn)方法

JIS H 7804:2005用電子顯微法測(cè)定金屬晶體的粒徑的方法

英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

BS ISO 25498:2018跟蹤更改 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析

18/30319114 DCBS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標(biāo)記圖像文件格式

BS ISO 11884-2:2007光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的*低要求.高性能顯微鏡

BS ISO 16700:2004微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準(zhǔn)指南

BS ISO 8036:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.光學(xué)顯微學(xué)的浸液

BS ISO 11884-1:2006光學(xué)和光子學(xué).體視顯微鏡的*低要求.通用體視顯微鏡

BS ISO 25498:2010微光束分析.解析電子顯微測(cè)定法.透射式電子顯微鏡對(duì)選定區(qū)域進(jìn)行電子衍射分析

BS ISO 21466:2019微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評(píng)估關(guān)鍵尺寸的方法

BS EN ISO 9220:1989金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

BS EN ISO 14880-1:2005光學(xué)和光子學(xué).顯微透鏡系列.詞匯

BS ISO 23729:2022表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南

BS ISO 23420:2021微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測(cè)定方法

21/30412880 DCBS ISO 23729 表面化學(xué)分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴(kuò)張的原子力顯微鏡圖像恢復(fù)程序指南

BS ISO 24639:2022微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序

BS ISO 16700:2016跟蹤更改 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準(zhǔn)圖像放大率的指南

18/30344520 DCBS ISO 21466 微束分析 掃描電子顯微鏡 CD-SEM 評(píng)估關(guān)鍵尺寸的方法

BS ISO 13794:1999環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.間接傳遞電子顯微鏡法

PD ISO/TS 10797:2012納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管

BS ISO 5061:2002動(dòng)物飼料.蓖麻油種子殼的測(cè)定.顯微鏡法

21/30394409 DCBS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法

20/30380369 DCBS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測(cè)定方法

BS ISO 10936-1:2002光學(xué)和光子學(xué) 手術(shù)顯微鏡 要求和試驗(yàn)方法

21/30404763 DCBS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序

BS ISO 19749:2021納米技術(shù) 用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

15/30292710 DCBS ISO 19214 透射電子顯微鏡測(cè)定線狀晶體生長(zhǎng)方向的指南

BS EN ISO 9220:2022跟蹤更改 金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法

BS ISO 13794:2019周圍空氣 石棉纖維的測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

BS ISO 10312:2019周圍空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

BS EN ISO 14880-1:2016光學(xué)和光子學(xué).顯微透鏡系列.詞匯和常規(guī)屬性

BS EN ISO 21363:2022納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

BS EN ISO 19749:2023納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 21363:2020納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 15932:2013微束分析. 分析電子顯微術(shù). 詞匯

BS ISO 22493:2014微束分析. 掃描電子顯微術(shù). 詞匯

BS ISO 21222:2020表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序

BS ISO 20263:2017微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法

BS EN ISO 14880-2:2007光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.波像差的試驗(yàn)辦法

PD ISO/TS 22292:2021納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像

BS ISO 14966:2019周圍空氣 無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定 掃描電子顯微鏡法

19/30351707 DCBS ISO 21222 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點(diǎn) JKR 方法測(cè)定柔順材料彈性模量的程序

BS CECC 00013:1985電子元器件質(zhì)量評(píng)定協(xié)調(diào)體系.基本規(guī)范:半導(dǎo)體小片的掃描電子顯微鏡檢驗(yàn)

BS EN ISO 14880-4:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微透鏡系列.幾何學(xué)特征試驗(yàn)方法

BS PD ISO/TS 22292:2021納米技術(shù) 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像

18/30351714 DCBS ISO 21363 納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

18/30351679 DCBS ISO 19749 納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 10936-1:2017跟蹤更改 光學(xué)和光子學(xué) 手術(shù)顯微鏡 要求及測(cè)試方法

BS ISO 14966:2002環(huán)境空氣.無機(jī)纖維顆粒的數(shù)值濃度的測(cè)定.掃描電子顯微鏡檢查法

18/30375050 DCBS ISO 14966 環(huán)境空氣 無機(jī)纖維顆粒數(shù)值濃度的測(cè)定 掃描電子顯微鏡法

BS ISO 29301:2017微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

19/30394914 DCBS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)

BS EN ISO 17751-2:2023紡織品 羊絨、羊毛等特種動(dòng)物纖維及其混紡品的定量分析掃描電子顯微鏡法

BS DD ISO/TS 10798:2011毫微技術(shù).利用掃描電子顯微鏡和能量色散X射線光譜法分析得出單層碳納米管的表示特征

BS EN ISO 14880-3:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡系列.不同于波前像差的光學(xué)特征試驗(yàn)辦法

DD ISO/TS 10798:2011納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管

BS ISO 29301:2010微光束分析.分析透射電子顯微鏡法.利用具有周期性結(jié)構(gòu)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行標(biāo)定圖像放大的方法

BS EN ISO 17751-2:2016紡織品. 羊絨, 羊毛, 其他特種動(dòng)物纖維及其混紡織物的定量分析. 掃描電子顯微鏡法

12/30228339 DCBS ISO 16000-27 室內(nèi)空氣 第 27 部分：用 SEM（掃描電子顯微鏡）測(cè)定表面沉降的纖維粉塵（直接法）

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 22493-2012(2017)微束分析掃描電子顯微鏡詞匯

KS D ISO 22493:2022微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯

KS D ISO 22493:2012微光束分析.掃描電子顯微鏡.術(shù)語

KS M 0044-1999掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則

KS I 0051-1999(2019)掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則

KS I 0051-1999掃描電子顯微鏡試驗(yàn)方法通則

KS D ISO 16700:2013微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南

KS B ISO 11884-2-2011(2016)光學(xué)和光子學(xué)立體顯微鏡*低要求第2部分:高性能顯微鏡

KS B ISO 11884-2-2011(2021)光學(xué)和光子學(xué)立體顯微鏡*低要求第2部分:高性能顯微鏡

KS D 2716-2008納米粒子的直徑測(cè)量技術(shù).透射電子顯微鏡

KS B ISO 11884-2:2011光學(xué)和光子學(xué).立體顯微鏡的*低要求.第2部分:高性能顯微鏡

KS D 2716-2008(2018)納米顆粒直徑的測(cè)量－透射電子顯微鏡

KS D ISO 16700-2013(2018)微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準(zhǔn)指南

KS P ISO 10936-2:2020光學(xué)和光子學(xué) - 操作顯微鏡 - 第2部分:眼部手術(shù)中使用的顯微鏡??的輕微危險(xiǎn)

KS D 8544-2006金屬涂層.涂層厚度測(cè)量.透射電子顯微鏡法

KS D 8544-2016(2021)金屬涂層——涂層厚度測(cè)量——透射電子顯微鏡法

KS D ISO 9220:2009金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

KS D ISO 9220-2009(2022)金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法

KS D ISO 9220-2009(2017)金屬鍍層鍍層厚度的測(cè)量掃描電子顯微鏡法

KS I ISO 4407:2012液壓油.利用顯微鏡的測(cè)量法來測(cè)量微粒子污染

KS I ISO 10312:2008環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.直接傳遞電子顯微鏡法

KS I ISO 13794:2008環(huán)境空氣.石棉纖維的測(cè)定.間接傳遞電子顯微鏡法

KS I ISO 10312-2008(2018)環(huán)境空氣石棉纖維的測(cè)定直接透射電子顯微鏡法

KS I ISO 13794-2008(2018)環(huán)境空氣中石棉纖維含量的測(cè)定間接透射電子顯微鏡法

KS B ISO 19012-1-2016(2021)光學(xué)和光子學(xué)顯微鏡物鏡的名稱第1部分:視野/平面的平面度

KS B ISO 8040-2006(2021)光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.管滑動(dòng)和管槽連接的尺寸

KS B ISO 8478-2006(2016)光學(xué)和光子學(xué)顯微鏡管滑動(dòng)和管槽連接的尺寸

KS B ISO 8478-2006(2021)光學(xué)和光子學(xué).顯微鏡.管滑動(dòng)和管槽連接的尺寸

KS B ISO 8040-2006(2016)光學(xué)和光子學(xué)顯微鏡管滑動(dòng)和管槽連接的尺寸

KS D ISO 23833:2022微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯

KS B ISO 14880-2:2013光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗(yàn)辦法

KS B ISO 14880-2:2008光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗(yàn)辦法

KS D ISO TR 17270:2007微束分析－分析透射電子顯微術(shù)－電子能量損失譜學(xué)實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定技術(shù)報(bào)告

KS K ISO 17751-2:2019紡織品 - 羊絨 羊毛 其他特種動(dòng)物纖維及其混合物的定量分析 - 第2部分:掃描電子顯微鏡法

KR-KS，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

KS D ISO 22493-2022微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯

KS D 2716-2023納米顆粒直徑的測(cè)量-透射電子顯微鏡

KS P ISO 10936-2-2020光學(xué)和光子學(xué) - 操作顯微鏡 - 第2部分:眼部手術(shù)中使用的顯微鏡??的輕微危險(xiǎn)

KS B ISO 19012-1-2016光學(xué)和光子學(xué)顯微鏡物鏡的命名第1部分:視場(chǎng)平面度

KS C ISO 19749-2023納米技術(shù)——用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

KS C ISO 21363-2023納米技術(shù)——用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

KS D ISO 23833-2022微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯

KS B ISO 10936-1-2023光學(xué)和光子學(xué).操作顯微鏡.第1部分:要求和試驗(yàn)方法

KS D ISO TR 17270-2007微束分析－分析透射電子顯微術(shù)－電子能量損失譜學(xué)實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定技術(shù)報(bào)告

KS K ISO 17751-2-2019紡織品 - 羊絨 羊毛 其他特種動(dòng)物纖維及其混合物的定量分析 - 第2部分:掃描電子顯微鏡法

法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

NF ISO 15932:2014微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯

NF X21-005:2006微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)圖像放大指南

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011微束分析 掃描電子顯微鏡 評(píng)價(jià)圖像清晰度的方法

XP ISO/TS 24597:2011微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評(píng)估圖像清晰度的方法

NF A91-108:1995金屬鍍層.鍍層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法

NF EN ISO 9220:2022金屬涂層.涂層厚度的測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

FD T16-209:2012納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管

NF T16-404:2020納米技術(shù). 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布

NF T16-403*NF ISO 19749:2021納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布

NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布

NF T25-111-4:1991碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第4部分：掃描電子顯微鏡斷口法

NF ISO 13794:2020環(huán)境空氣 石棉纖維測(cè)定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

NF ISO 10312:2020環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

NF E48-651:1986液壓傳動(dòng).流體.用顯微鏡計(jì)數(shù)法測(cè)定粒子污染

NF X43-050:2021空氣質(zhì)量 用透射電子顯微鏡法測(cè)定石棉纖維濃度 間接法

NF EN ISO 19749:2023納米技術(shù) - 通過掃描電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布

NF EN ISO 21363:2022納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定顆粒尺寸和形狀分布

NF X21-016*NF ISO 15932:2014微束分析 分析電子顯微術(shù) 詞匯

NF X43-050:1996空氣質(zhì)量.用電子顯微鏡傳送法測(cè)定石棉纖維的密度.間接法

NF X21-010:2009微光束分析.掃描電子顯微術(shù).詞匯

NF S10-132-1:2016光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第1部分:詞匯和一般屬性

NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第4部分:幾何學(xué)特征的試驗(yàn)辦法

NF EN 60749-35:2006半導(dǎo)體器件 - 氣候和機(jī)械測(cè)試方法 - 第 35 部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

NF ISO 16000-27:2014室內(nèi)空氣 - 第 27 部分：通過 SEM（掃描電子顯微鏡）測(cè)定表面沉積的纖維狀灰塵（直接法）

FD T16-203:2011納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014室內(nèi)空氣. 第27部分: 采用SEM (掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法) 對(duì)表面纖維落塵的測(cè)定

NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動(dòng)物纖維及其混紡的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

NF EN ISO 17751-2:2016紡織品 分析動(dòng)物纖維、動(dòng)物纖維和混紡纖維的定量 第2部分：電子顯微鏡和平衡法的方法

國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 22060-2008顯微鏡.鏡筒滑塊和鏡筒槽的連接尺寸

GB 7667-1996電子顯微鏡X射線泄漏劑量

GB 7667-2003電子顯微鏡X射線泄漏劑量

GB/T 18907-2002透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法

GB/T 18907-2013微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

GB/T 21637-2008冠狀病毒透射電子顯微鏡形態(tài)學(xué)鑒定方法

GB/T 18295-2001油氣儲(chǔ)層砂巖樣品掃描電子顯微鏡分析方法

GB/T 19267.6-2003刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn)第6部分;掃描電子顯微鏡法

GB/T 28634-2012微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點(diǎn)分析

GB/T 28044-2011納米材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法通則

GB/T 17507-1998電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件

GB/T 18873-2002生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

GB/T 18873-2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

GB/T 23414-2009微束分析.掃描電子顯微術(shù).術(shù)語

GB/T 17361-2013微束分析 沉積巖中自生粘土礦物鑒定 掃描電子顯微鏡及能譜儀方法

GB/T 19267.6-2008刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 31227-2014原子力顯微鏡測(cè)量濺射薄膜表面粗糙度的方法

GB/Z 21738-2008一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法

GB/T 17507-2008透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件

GB/T 28873-2012納米顆粒生物形貌效應(yīng)的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測(cè)方法通則

GB/T 21636-2008微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術(shù)語

GB/T 17361-1998沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法

GB/T 32189-2015氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法

GB/T 22092-2018電子數(shù)顯測(cè)微頭和深度千分尺

GB/T 22092-2008電子數(shù)顯測(cè)微頭和深度千分尺

GB/T 2679.11-2008紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 2679.11-1993紙和紙板中無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 32055-2015微束分析電子探針顯微分析波譜法元素面分析

GB/T 27760-2011利用Si（111）晶面原子臺(tái)階對(duì)原子力顯微鏡亞納米高度測(cè)量進(jìn)行校準(zhǔn)的方法

GB/T 28872-2012活細(xì)胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動(dòng)輕敲模式原子力顯微鏡檢測(cè)方法

GB/T 21638-2008鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

GB/T 30705-2014微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實(shí)驗(yàn)參數(shù)測(cè)定導(dǎo)則

GB/T 20725-2006波譜法定性點(diǎn)分析電子探針顯微分析導(dǎo)則

GB/Z 26083-2010八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的測(cè)試方法（掃描隧道顯微鏡）

GB/T 15247-2008微束分析.電子探針顯微分析.測(cè)定鋼中碳含量的校正曲線法

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JJF 1916-2021掃描電子顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范

中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

T/CSTM 00162-2020透射電子顯微鏡校準(zhǔn)方法

T/CSTM 00166.3-2020石墨烯材料表征 第3部分 透射電子顯微鏡法

T/CSTM 00003-2019二維材料厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法

T/GDASE 0008-2020石墨烯薄膜楊氏模量的測(cè)定 原子力顯微鏡法

T/TIAA 014-2018車載電子后視鏡用顯示器件光學(xué)測(cè)量方法

國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JJG(地質(zhì)) 1016-1990透射電子顯微鏡檢定規(guī)程

JJG(教委) 11-1992掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程

JJG(教委) 12-1992透射電子顯微鏡檢定規(guī)程

JJG 550-1988掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JY/T 011-1996透射電子顯微鏡方法通則

JY/T 0581-2020透射電子顯微鏡分析方法通則

JY/T 0584-2020掃描電子顯微鏡分析方法通則

JY/T 010-1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 33834-2017微束分析 掃描電子顯微術(shù) 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法

GB/T 34331-2017黃瓜綠斑駁花葉病毒透射電子顯微鏡檢測(cè)方法

GB/T 34168-2017金、銀納米顆粒材料生物效應(yīng)的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法

GB/T 34831-2017納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場(chǎng)法

GB/T 33839-2017基于生物效應(yīng)含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測(cè)方法

GB/T 32262-2015用于原子力顯微鏡檢測(cè)的脫氧核糖核酸樣品的制備方法

GB/T 33838-2017微束分析 掃描電子顯微術(shù) 圖像銳度評(píng)估方法

德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DVS 2803-1974顯微鏡下的電子束焊接（調(diào)查）

DVS 2801-1968顯微鏡下的電阻焊（調(diào)查）

VDI 3861 Blatt 2-2008固定源排放廢氣中無機(jī)纖維顆粒的測(cè)量掃描電子顯微鏡法

VDI 3492-2004室內(nèi)空氣測(cè)量-環(huán)境空氣測(cè)量-無機(jī)纖維顆粒的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法

VDI 3492-2013室內(nèi)空氣測(cè)量-環(huán)境空氣測(cè)量-無機(jī)纖維顆粒的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法

美國(guó)國(guó)防部標(biāo)準(zhǔn)化文件（含MIL標(biāo)準(zhǔn)），關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DOD A-A-54873-1993塑料顯微鏡載片盒子

DOD A-A-53609-1988顯微鏡防護(hù)玻璃罩鑷子

DOD A-A-54222-1990帶電水浴室(顯微鏡用薄片切片機(jī)薄紗樣本部分裝置)

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 35098-2018微束分析 透射電子顯微術(shù) 植物病毒形態(tài)學(xué)的透射電子顯微鏡鑒定方法

GB/T 40300-2021微束分析 分析電子顯微學(xué) 術(shù)語

GB/T 40066-2021納米技術(shù) 氧化石墨烯厚度測(cè)量 原子力顯微鏡法

GB/T 21636-2021微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術(shù)語

GB/T 4930-2021微束分析 電子探針顯微分析 標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則

美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E766-98(2003)校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)

ASTM E766-98校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)

ASTM E2090-00利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對(duì)清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2090-12利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對(duì)清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E986-97掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E986-04(2017)掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E766-14掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法

ASTM E2382-04(2020)掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E2382-04掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南

ASTM E3143-18a脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E3143-18脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E766-98(2008)e1掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)校正規(guī)范

ASTM E3143-18b脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM C1723-16(2022)用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM C1723-10用掃描電子顯微鏡檢驗(yàn)硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM C1723-16用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM D3849-13用電子顯微鏡對(duì)碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D3849-14用電子顯微鏡對(duì)碳黑形態(tài)特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2382-04(2012)掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM D5756-02(2008)用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉塊表面負(fù)荷作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2859-11(2017)使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E285-08(2015)使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E986-04掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D3849-95a(2000)用電子顯微鏡測(cè)定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D3849-07用電子顯微鏡測(cè)定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E766-14(2019)校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM E986-04(2010)掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D3849-22用電子顯微鏡測(cè)定炭黑形態(tài)特征的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E3143-18b(2023)進(jìn)行脂質(zhì)體冷凍透射電子顯微鏡檢查的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E2859-11(2023)使用原子力顯微鏡測(cè)量納米粒子尺寸的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E766-14e1用于校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

ASTM D7201-06(2020)通過相位對(duì)比顯微鏡（帶有透射電子顯微鏡選項(xiàng)）在工作場(chǎng)所取樣和計(jì)數(shù)機(jī)載纖維（包括石棉纖維）的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM E3060-16使用動(dòng)態(tài) (流量) 成像顯微鏡對(duì)生物醫(yī)藥制造業(yè)中顯微鏡下才能看到的粒子的測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM B748-90(2006)用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)定金屬涂層厚度的方法

ASTM D3849-02炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征

ASTM D3849-04炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征

ASTM B748-90(1997)用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)定金屬涂層厚度的方法

ASTM D7201-06(2011)用相襯顯微鏡(也可選擇透射電子顯微鏡)在工作場(chǎng)所采樣,并計(jì)算空氣纖維(包括石棉纖維)含量的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程

ASTM E2859-11利用原子力學(xué)顯微鏡進(jìn)行尺寸測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E2142-08(2015)用掃描電子顯微鏡評(píng)定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2142-08用掃描電子顯微鏡分級(jí)和分類鐵中內(nèi)含物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D3849-14a炭黑的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法. 使用電子顯微鏡測(cè)定炭黑的形態(tài)特征

ASTM B748-90(2010)掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)定金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2809-13在法醫(yī)油漆檢查中使用掃描電子顯微鏡/X射線光譜法的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM B748-90(2021)用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面測(cè)量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1588-95(2001)用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-08用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-10用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E2142-01利用掃描電子顯微鏡測(cè)定鋼中雜質(zhì)的額定值和分級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E1588-95用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM B748-90(2016)通過用掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面來測(cè)量金屬涂層厚度的試驗(yàn)方法

ASTM D5756-02用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5756-95用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM B748-90(2001)通過掃描電子顯微鏡測(cè)量橫截面來測(cè)量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM D5755-95用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5755-02用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5755-03用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5755-09用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D5755-09(2014)e1用石棉結(jié)構(gòu)值表面負(fù)荷用透射電子顯微鏡對(duì)塵埃微真空取樣和間接分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F1372-93(1999)用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM E1588-20通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐

ASTM F1372-93(2020)用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

ASTM D6056-96(2011)工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度透射電子顯微鏡測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D605-82(1996)e1用電子顯微鏡掃描測(cè)定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM D6059-96(2011)用電子顯微鏡掃描測(cè)定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM F1372-93(2005)氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡(SEM)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E280-98(2004)e1在法醫(yī)聚合物檢驗(yàn)中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜（SEM/EDS）的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-07e1用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E1588-07用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測(cè)定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E280-21在法醫(yī)聚合物檢驗(yàn)中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜（SEM/EDS）的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM E2809-22在法醫(yī)聚合物檢驗(yàn)中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜（SEM/EDS）的標(biāo)準(zhǔn)指南

ASTM F1372-93(2012)氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

ASTM E2530-06用Si(111)單原子層級(jí)對(duì)原子力顯微鏡進(jìn)行次納米位移級(jí)的Z倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程

ASTM D6480-05(2010)用透射電子顯微鏡對(duì)表面擦拭取樣中石棉結(jié)構(gòu)值濃度間接制備和分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

美國(guó)電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

IPC J-STD-035-1999非氣密封裝電子元件聲學(xué)顯微鏡

IPC TM-650 2.6.22-1995塑封電子元器件用的聲學(xué)顯微鏡

IPC/JEDEC J-STD-035-1999非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡[替代:IPC TM-650 2.6.22]

RU-GOST R，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GOST 21006-1975電子顯微鏡.術(shù)語、定義和字母符號(hào)

GOST R 8.594-2009確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.掃描電子顯微鏡

GOST R 8.636-2007國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.校準(zhǔn)方法

GOST 8.594-2009國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.鑒定方法

GOST R 8.631-2007國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子測(cè)量顯微鏡.驗(yàn)證方法

GOST R 56168-2014醫(yī)療電氣設(shè)備. 手術(shù)顯微鏡. 采購(gòu)規(guī)范

GOST 8.593-2009國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法

GOST R 8.630-2007國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子能掃描探測(cè)顯微鏡.驗(yàn)證方法

GOST R 8.635-2007國(guó)家測(cè)量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準(zhǔn)方法

GOST R 8.593-2009確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規(guī)程

GOST ISO 16000-27-2017室內(nèi)空氣 第27部分 通過 SEM（掃描電子顯微鏡）（直接法）測(cè)定表面上沉降的纖維粉塵

GOST R 8.697-2010確保測(cè)量一致性的國(guó)家體系.晶體中的平面間距.利用透射電子顯微鏡的測(cè)量方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

YY 1296-2016光學(xué)和光子學(xué)手術(shù)顯微鏡眼科用手術(shù)顯微鏡的光危害

德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DIN 58272:1983醫(yī)療器械；精制顯微鏡鑷子

DIN 58272:2009醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子

DIN 58272:2016醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子

DIN SPEC 52407:2015-03納米技術(shù) 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進(jìn)行粒子測(cè)量的準(zhǔn)備和評(píng)估方法

DIN EN ISO 9220:2022-05金屬涂層-涂層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法

DIN EN ISO 9220:2021金屬涂層-涂層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

DIN 22020-3:1998-08硬煤開采原材料的研究 硬煤、焦炭和煤球的顯微鏡檢查 第3部分：顆粒塊的顯微分析

DIN 22020-4:1998-12硬煤開采原材料的研究 - 硬煤、焦炭和煤球的顯微鏡檢查 - 第 4 部分：顆粒塊的顯微巖型分析

DIN EN ISO 19749:2023-07納米技術(shù) - 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）

DIN EN ISO 21363:2022-03納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)

DIN EN ISO 9220:1995金屬鍍層.鍍層厚度測(cè)量.電子掃描顯微鏡法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994

DIN EN ISO 14880-2:2007光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡陣列.第2部分:波前像差的試驗(yàn)辦法

DIN EN 60749-35:2007-03半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候測(cè)試方法-第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

DIN ISO 16000-27:2014-11室內(nèi)空氣 第27部分：通過 SEM（掃描電子顯微鏡）測(cè)定表面上沉積的纖維灰塵（直接法）

DIN 22020-2:1998-08硬煤開采原材料的研究 硬煤、焦炭和煤球的顯微鏡檢查 第2部分：從塊狀材料和顆粒塊中制備拋光表面

DIN EN ISO 14880-4:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第4部分:幾何學(xué)特征的試驗(yàn)辦法(ISO 14880-4-2006)

DIN 50452-1:1995半導(dǎo)體工藝用材料的檢驗(yàn).液體中粒子分析的試驗(yàn)方法.第1部分:粒子的顯微鏡測(cè)定

DIN EN ISO 17751-2:2016-11紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動(dòng)物纖維及其混紡品的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

DIN EN ISO 17751-2:2022-09紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動(dòng)物纖維及其混紡品的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 5162-2014巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

SY/T 5162-1997巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

SY 5162-2014巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

上海市標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DB31/T 297-2003掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法

DB31/T 315-2004透射電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)方法

(美國(guó))固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì),隸屬EIA，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC J-STD-035-1999非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡

國(guó)際電工委員會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

IEC PAS 62191:2000非氣密封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

國(guó)家能源局，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

SY/T 5162-2021巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

YB/T 4676-2018鋼出相的分析透射電子顯微鏡法

SJ/T 11759-2020光伏電池電極柵線高寬比的測(cè)量 激光掃描共聚焦顯微鏡法

江蘇省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DB32/T 3459-2018石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測(cè)試 掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

SN/T 4388-2015皮革鑒定 掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡法

SN/T 2649.1-2010進(jìn)出口化妝品中石棉的測(cè)定 第1部分：X射線衍射-掃描電子顯微鏡法

ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

SPB-M6-3-201008 年 4 月：原子力顯微鏡（技術(shù)背景）

SPB-M2-1-2007通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變學(xué)特性

SPB-M6-1-201008 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變特性

SPB-M14-1-2010月 10 日：通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的相互作用和流變學(xué)性質(zhì)

SPB-M6-2-2010月 8 日：通過原子力顯微鏡（AFM）測(cè)量瀝青質(zhì)與不同表面之間的膠體相互作用

SE-SIS，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

SIS SS-ISO 9220:1989金屬涂層．涂層厚度測(cè)量．掃描電子顯微鏡方法

SIS SS CECC 00013-1985基本規(guī)范．半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡觀察

SIS SS 11 11 15-1985鋼．夾渣含量評(píng)估方法．顯微鏡法．粒子人工計(jì)數(shù)和尺寸分布計(jì)算

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

EN ISO 9220:2022金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法

EN ISO 21363:2022納米技術(shù) - 通過透射電子顯微鏡測(cè)定粒度分布的方案

EN ISO 9220:1994金屬覆蓋層.鍍層厚度測(cè)量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)

EN ISO 14880-1:2019光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第1部分:詞匯

EN ISO 14880-1:2005光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第1部分:詞匯

EN ISO 19749:2023納米技術(shù).用掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

prEN ISO 9220:2021金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

prEN ISO 21363:2021納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

EN ISO 14880-2:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗(yàn)辦法

EN ISO 14880-4:2006光學(xué)和光子學(xué).顯微物鏡系列.第4部分:幾何學(xué)特征的試驗(yàn)辦法 ISO 14880-4-2006

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DS/EN ISO 9220:1995金屬鍍層 鍍層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法

DS/ISO 10936-2:2010光學(xué)和光子學(xué) 手術(shù)顯微鏡 第2部分：眼科手術(shù)中使用的手術(shù)顯微鏡的光危害

DS/ISO/TS 10797:2012納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管

DS/ISO 19749:2021納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布

DS/ISO/TS 22292:2021納米技術(shù) 使用透射電子顯微鏡對(duì)桿狀支撐的納米物體進(jìn)行 3D 圖像重建

DS/EN 60749-35:2007半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

DS/ISO/TS 10798:2011納米技術(shù) 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

ES-UNE，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

UNE-EN ISO 9220:2022金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡方法

UNE-EN ISO 21363:2022納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

UNE-EN ISO 19749:2023納米技術(shù) 通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和形狀分布

UNE-EN 60749-35:2006半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GA/T 1939-2021法庭科學(xué) 電流斑檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1938-2021法庭科學(xué) 金屬檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1937-2021法庭科學(xué) 橡膠檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 909-2010微量物證的提取、包裝方法 掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗(yàn)射擊殘留物

GA/T 1522-2018法庭科學(xué) 射擊殘留物檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1521-2018法庭科學(xué) 塑料元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1519-2018法庭科學(xué) 墨粉元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1520-2018法庭科學(xué) 黑**、煙**元素成分檢驗(yàn) 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 823.3-2018法庭科學(xué)油漆物證的檢驗(yàn)方法 第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

IT-UNI，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

UNI 7604-1976用復(fù)制品進(jìn)行的金屬材料電子顯微鏡檢測(cè)．顯微照相檢測(cè)用復(fù)制品的準(zhǔn)備

UNI 7329-1974使用復(fù)制品進(jìn)行金屬材料的電子顯微鏡檢測(cè)．顯微結(jié)構(gòu)檢測(cè)用復(fù)制品的準(zhǔn)備

PH-BPS，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

PNS ISO 21363:2021納米技術(shù).用透射電子顯微鏡測(cè)量粒度和形狀分布

美國(guó)國(guó)防后勤局，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

DLA SMD-5962-86018 REV D-2006硅單塊 交流型等離子體顯示設(shè)備直線微型電路

DLA SMD-5962-86088-1986硅單塊 繪圖顯示控制器,數(shù)字微型電路

AENOR，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

UNE-EN ISO 9220:1996金屬涂層 涂層厚度的測(cè)量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）

UNE 77236:1999環(huán)境空氣 石棉纖維的測(cè)定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

LST EN ISO 9220:2001金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）

LST EN 60749-35-2007半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡（IEC 60749-35:2006）

美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

SAE ARP598C-2003(R)液體動(dòng)力系統(tǒng)的航空顯微鏡粒度法和微粒子污染

AT-ON，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

OENORM EN ISO 9220:2021金屬鍍層-鍍層厚度的測(cè)量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

OENORM EN ISO 21363:2021納米技術(shù) 通過透射電子顯微鏡測(cè)量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

國(guó)家*用標(biāo)準(zhǔn)-國(guó)防科工委，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GJB 5384.22-2005煙**性能試驗(yàn)方法 第21部分:煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測(cè)定 電子顯微鏡法

GJB 5384.23-2005煙**性能試驗(yàn)方法 第23部分:煙霧固態(tài)微粒粒度頒布測(cè)定 電子顯微鏡法

國(guó)家*用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

GJB 8684.22-2015煙**性能試驗(yàn)方法 第22部分：煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測(cè)定 電子顯微鏡法

GJB 8684.23-2015煙**性能試驗(yàn)方法 第23部分：煙霧固態(tài)微粒粒度分布測(cè)定 電子顯微鏡法

CN-STDBOOK，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

圖書 a-4565電子顯微分析實(shí)用方法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

BS CECC 13:1985(1999)電子元件質(zhì)量評(píng)估協(xié)調(diào)制度：基本規(guī)范：半導(dǎo)體芯片的掃描電子顯微鏡檢查

DIN EN ISO 21363:2022納米技術(shù) – 使用透射電子顯微鏡測(cè)量顆粒尺寸和顆粒形狀分布

DIN EN 160200-1:1998經(jīng)過質(zhì)量評(píng)估的電子微波模塊

BE-NBN，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

NBN EN ISO 9220:1995金屬保護(hù)層．保護(hù)層厚度的測(cè)定：使用電子掃描顯微鏡（ISO 9220-1988）

IPC - Association Connecting Electronics Industries，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999非氣密封裝電子元件的聲學(xué)顯微鏡（包含修正案 1：2007年1月）

JP-JEITA，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JEITA ED2721-2008等離子顯示模塊的電氣接口

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

EJ/T 20176-2018金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測(cè)量方法

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI/ASTM D6059:2001用掃描電子顯微鏡測(cè)定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

ANSI/ASTM D6056:2001用傳輸電子顯微鏡測(cè)定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

GOSTR，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

PNST 508-2020納米技術(shù) 單壁碳納米管 通過掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征

PNST 507-2020納米技術(shù) 單壁碳納米管 使用透射電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法進(jìn)行表征

YU-JUS，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

JUS U.M1.056-1993混凝土．顯微鏡分析下的加氣混凝土含量、因子以及空隙距離的測(cè)定

IX-IX-IEC，關(guān)于塊 電子顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)

IEC TS 62607-6-17:2023納米制造 關(guān)鍵控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 階參數(shù)：X 射線衍射和透射電子顯微鏡

檢測(cè)流程步驟

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