本文主要列舉了關(guān)于單晶體冰糖的相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)僅供參考,如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),可以咨詢我們。
QB/T 1173-2002:單晶體冰糖
YS/T 557-2006(2012):壓電鈮酸鋰單晶體聲波衰減測(cè)試方法
JJF 1256-2010:X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范
YS/T 557-2006(2017):壓電鈮酸鋰單晶體聲波衰減測(cè)試方法
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SJ/T 10625-1995(2017):鍺單晶體中間隙氧含量的紅外吸收測(cè)定方法
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QB/T 1174-2002:多晶體冰糖
GB/T 35883-2018:冰糖
QB/T 5010-2016:冰糖試驗(yàn)方法
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GB/T 41325-2022:集成電路用低密度晶體原生凹坑硅單晶拋光片
GB/T 42676-2023:半導(dǎo)體單晶晶體質(zhì)量的測(cè)試 X射線衍射法
HB 6742-1993:單晶葉片晶體取向的測(cè)定X射線背射勞厄照相法
GB/T 5238-2019:鍺單晶和鍺單晶片
GB/T 12962-2015:硅單晶
JY/T 0588-2020:單晶X射線衍射儀測(cè)定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
GB/T 20230-2022:磷化銦單晶
SJ 20607-1996:鉬酸鉛單晶規(guī)范
JB/T 7996-2012(2017):普通磨料 單晶剛玉
YS/T 42-2010(2017):鉭酸鋰單晶
GB/T 20229-2022:磷化鎵單晶
JB/T 7996-2012:普通磨料 單晶剛玉
YS/T 1167-2016(2017):硅單晶腐蝕片
GB/T 26069-2022:硅單晶退火片
YS/T 554-2007(2014):鈮酸鋰單晶
YS/T 42-2010:鉭酸鋰單晶
YS/T 1182-2016:鍺單晶安全生產(chǎn)規(guī)范
SJ 20444A-2018:鈮酸鋰單晶規(guī)范
GB/T 12964-2018:硅單晶拋光片
檢測(cè)流程步驟
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