- N +

光電子器件檢測檢驗測試標準依據(jù)

檢測報告圖片樣例

本文主要列舉了關(guān)于光電子器件的相關(guān)檢測標準,檢測標準僅供參考,如果您想了解自己的樣品需要哪些檢測標準,可以咨詢我們。

SJ 2247-1982(2017):半導(dǎo)體光電子器件外形尺寸

SJ 2247-1982(2009):半導(dǎo)體光電子器件外形尺寸

GB/T 12565-1990:半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范(可供認證用)

GB/T 33768-2017:通信用光電子器件可靠性試驗方法

YD/T 2342-2011(2017):通信用光電子器件可靠性試驗方法

YD/T 2342-2011:通信用光電子器件可靠性試驗方法

GB/T 21194-2007:通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求

SJ 50033/197-2018:半導(dǎo)體光電子器件 GH3202Z型光電耦合器詳細規(guī)范

SJ 50033/199-2018:半導(dǎo)體光電子器件 GH4420Z型光電耦合器詳細規(guī)范

SJ 50033/198-2018:半導(dǎo)體光電子器件 GH3201Z-2型光電耦合器詳細規(guī)范

GB/T 15651-1995:半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件

SJ 50033/111-1996:半導(dǎo)體光電子器件 GT16型硅NPN光電晶體管詳細規(guī)范

SJ 50033/112-1996:半導(dǎo)體光電子器件 GD3251Y型光電二極管詳細規(guī)范

SJ 50033/147-2000:半導(dǎo)體光電子器件 GF1121型LED指示燈詳細規(guī)范

YD/T 2001.2-2011(2017):用于光纖系統(tǒng)的半導(dǎo)體光電子器件 第2部分:測試方法

SJ 20644/2-2001:半導(dǎo)體光電子器件 GD101型PIN光電二極管詳細規(guī)范

SJ 50033/113-1996:半導(dǎo)體光電子器件 GD3252Y型光電二極管詳細規(guī)范

SJ/T 11405-2009:光纖系統(tǒng)用半導(dǎo)體光電子器件 第2部分:測量方法

SJ/T 11393-2009:半導(dǎo)體光電子器件 功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

YD/T 2001.2-2011:用于光纖系統(tǒng)的半導(dǎo)體光電子器件 第2部分:測試方法

SJ/T 11393-2009(2017):半導(dǎo)體光電子器件 功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

GB/T 36358-2018:半導(dǎo)體光電子器件 功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

SJ/T 11400-2009:半導(dǎo)體光電子器件 小功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

GB/T 15651.4-2017:半導(dǎo)體器件 分立器件 第5-4部分:光電子器件 半導(dǎo)體激光器

SJ 20644/1-2001:半導(dǎo)體光電子器件 GD3550Y型PIN光電二極管詳細規(guī)范

SJ 58119/3-2018:半導(dǎo)體光電子器件 GT322D-60-SM-FC/APC型光電探測器詳細規(guī)范

SJ/T 11400-2009(2017):半導(dǎo)體光電子器件 小功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

GB/T 36360-2018:半導(dǎo)體光電子器件 中功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

GB/T 15651.3-2003:半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件 測試方法

SJ 50033/114-1996:半導(dǎo)體光電子器件 GD3283Y型位敏探測器詳細規(guī)范

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內(nèi)容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

返回列表
上一篇:電子元器件及設(shè)備(物理性能)檢測檢驗方法解讀
下一篇:返回列表