GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測(cè)量方法》基本信息

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：

GB/T 11378-1989

中文名稱(chēng)：

《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測(cè)量方法》

發(fā)布日期：

1989-06-29

實(shí)施日期：

1990-01-01

發(fā)布部門(mén)：

國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局

歸口單位：

金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：

A29材料防護(hù)

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)：

25.220.40金屬鍍層

GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測(cè)量方法》介紹

國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局于1989年發(fā)布了GB/T 11378-1989《金屬覆蓋層厚度 輪廓尺寸測(cè)量方法》標(biāo)準(zhǔn)。

一、標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

GB/T 11378-1989標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬覆蓋層厚度的輪廓尺寸測(cè)量，包括但不限于電鍍、化學(xué)鍍、熱噴涂、涂裝等工藝形成的金屬覆蓋層。該標(biāo)準(zhǔn)不適用于非金屬覆蓋層的測(cè)量。

二、測(cè)量方法

1、破壞性切片法

破壞性切片法是通過(guò)將金屬覆蓋層從基體上剝離，然后使用顯微鏡測(cè)量其厚度。該方法適用于厚度較大的金屬覆蓋層。

2、X射線(xiàn)熒光法

X射線(xiàn)熒光法是通過(guò)使用X射線(xiàn)照射金屬覆蓋層，然后測(cè)量其反射回來(lái)的熒光信號(hào)，從而計(jì)算出覆蓋層的厚度。該方法適用于厚度較小的金屬覆蓋層。

3、電子探針顯微分析法

電子探針顯微分析法是通過(guò)使用電子束轟擊金屬覆蓋層，然后測(cè)量其反射回來(lái)的信號(hào)，從而確定覆蓋層的厚度。該方法適用于厚度較小且要求精度較高的金屬覆蓋層。

三、測(cè)量條件

1、環(huán)境條件：測(cè)量應(yīng)在無(wú)塵、無(wú)振動(dòng)、溫度和濕度適宜的環(huán)境中進(jìn)行。

2、儀器設(shè)備：使用的測(cè)量?jī)x器應(yīng)經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)，并滿(mǎn)足測(cè)量精度的要求。

3、測(cè)量人員：測(cè)量人員應(yīng)具備相應(yīng)的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和技能，并熟悉測(cè)量方法和操作規(guī)程。

四、測(cè)量結(jié)果的表示

1、測(cè)量結(jié)果應(yīng)以平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差的形式表示。

2、測(cè)量結(jié)果應(yīng)注明測(cè)量方法、測(cè)量條件和測(cè)量?jī)x器的型號(hào)和規(guī)格。

3、測(cè)量結(jié)果應(yīng)以書(shū)面形式報(bào)告，并由測(cè)量人員簽字確認(rèn)。

檢測(cè)流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢(xún)客服。