檢測(cè)報(bào)告圖片
第三方檢測(cè)報(bào)告有效期
一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
質(zhì)譜放電檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)，嚴(yán)格按照質(zhì)譜放電檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè)，找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。
涉及質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)有40條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，質(zhì)譜放電涉及到金屬材料試驗(yàn)、有色金屬、分析化學(xué)、半導(dǎo)體材料、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，質(zhì)譜放電涉及到半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、貴金屬及其合金分析方法、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、元素半導(dǎo)體材料、重金屬及其合金分析方法、稀有高熔點(diǎn)金屬及其合金、稀有金屬及其合金分析方法、、稀有輕金屬及其合金、輕金屬及其合金分析方法、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、電子技術(shù)專用材料。
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 37211.3-2022金屬鍺化學(xué)分析方法 第3部分:痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
GB/T 32651-2016采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測(cè)量太陽(yáng)能級(jí)硅中痕量元素的測(cè)試方法
GB/T 23275-2009釕粉化學(xué)分析方法.鉛、鐵、鎳、鋁、銅、銀、金、鉑、銥、鈀、銠、硅量的測(cè)定.輝光放電質(zhì)譜法
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 36590-2018高純銀化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33236-2016多晶硅痕量元素化學(xué)分析輝光放電質(zhì)譜法
工業(yè)和信息化部，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
YS/T 1530-2022高純錫化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1494-2021高純金化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1493-2021高純鉑化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1495-2021高純銠化學(xué)分析方法 雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1473-2021高純鉬化學(xué)分析方法 ？痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 ？輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1505-2021高純釕化學(xué)分析方法？雜質(zhì)元素含量的測(cè)定？輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1506-2021高純銥化學(xué)分析方法？雜質(zhì)元素含量的測(cè)定？輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1504-2021高純鈀化學(xué)分析方法？雜質(zhì)元素含量的測(cè)定？輝光放電質(zhì)譜法
XB/T 628-2020高純稀土金屬化學(xué)分析方法痕量元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1347-2020高純鉿化學(xué)分析方法痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1288.4-2018高純鋅化學(xué)分析方法第4部分：痕量元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
ISO/TS 15338:2020表面化學(xué)分析 - 輝光放電質(zhì)譜 - 操作程序
ISO/TS 15338:2009表面化學(xué)分析.輝光放電質(zhì)譜測(cè)定法(GD-MS).使用介紹
中國(guó)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
T/SDAS 4-2016高純金化學(xué)分析方法雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
YS/T 1011-2014高純鈷化學(xué)分析方法雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 981.1-2014高純銦化學(xué)分析方法 鎂、鋁、硅、硫、鐵、鎳、銅、鋅、砷、銀、鎘、錫、鉈、鉛的測(cè)定 高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 1012-2014高純鎳化學(xué)分析方法雜質(zhì)元素含量的測(cè)定輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 897-2013高純鈮化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 923.2-2013高純鉍化學(xué)分析方法 第2部分: 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 922-2013高純銅化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 229.4-2013高純鉛化學(xué)分析方法 第4部分:痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 895-2013高純錸化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 917-2013高純鎘化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素含量的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 901-2013高純鎢化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 899-2013高純鉭化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 891-2013高純鈦化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 871-2013高純鋁化學(xué)分析方法 痕量雜質(zhì)元素的測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
YS/T 35-2012高純銻化學(xué)分析方法 鎂、鋅、鎳、銅、銀、鎘、鐵、硫、砷、金、錳、鉛、鉍、硅、硒含量的測(cè)定 高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
DB35/T 1146-2011硅材料中雜質(zhì)元素含量測(cè)定 輝光放電質(zhì)譜法
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
BS DD ISO/TS 15338:2009表面化學(xué)分析.輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS).用法介紹
美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
ASTM F1593-08應(yīng)用高質(zhì)量分辯率輝光放電質(zhì)譜計(jì)測(cè)定電子級(jí)鋁中微量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM F1710-08應(yīng)用高質(zhì)量分辯率輝光放電質(zhì)譜計(jì)測(cè)定電子級(jí)鈦中微量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM F1593-97應(yīng)用高質(zhì)量分辯率輝光放電質(zhì)譜計(jì)測(cè)定電子級(jí)鋁中微量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
ASTM F1593-97(2002)應(yīng)用高質(zhì)量分辯率輝光放電質(zhì)譜計(jì)測(cè)定電子級(jí)鋁中微量金屬雜質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，關(guān)于質(zhì)譜放電的標(biāo)準(zhǔn)
AS 3685-1998輝光放電質(zhì)譜法（GD-MS）的建議程序和原則
檢測(cè)流程步驟
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