檢測報告圖片

第三方檢測報告有效期

一般檢測報告上會標(biāo)注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標(biāo)注有效期。

共振疲勞試驗檢測項目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測實驗室可根據(jù)GB/T 38447-2020 微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗方法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗方案。對樣品測試的共振疲勞試驗等項目進(jìn)行檢測分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的共振疲勞試驗報告。

檢測項目

共振疲勞試驗、多軸隨機(jī)振動疲勞試驗等。

適用范圍

金屬零部件、機(jī)械構(gòu)件、螺旋槳葉片、半導(dǎo)體器件、微電機(jī)器件等。

相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 38447-2020 微機(jī)電系統(tǒng)技術(shù) MEMS結(jié)構(gòu)共振疲勞試驗方法

JIS C5630-12-2014 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

NF C96-050-12-2012 半導(dǎo)體器件 - 微型機(jī)電裝置 - 第12部分: 使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法.

DIN EN 62047-12-2012 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

IEC 62047-12-2011 半導(dǎo)體器件.微電機(jī)器件.第12部分:使用MEMS結(jié)構(gòu)共振的薄膜材料的彎曲疲勞測試方法

檢測流程步驟

溫馨提示：以上關(guān)于《共振疲勞試驗測試報告》內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。