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通信電纜檢測(cè)測(cè)試哪些指標(biāo)？檢測(cè)費(fèi)用多少？檢測(cè)周期多久呢？我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)和評(píng)估，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí)，我們還根據(jù)客戶的需求，提供個(gè)性化的檢測(cè)方案和報(bào)告，幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。

檢測(cè)項(xiàng)目（參考）：

衰減、部分參數(shù)、回波損耗、插入損耗、等電平遠(yuǎn)端串音功率和、等電平遠(yuǎn)端串音、衰減串音比功率和、衰減串音比、近端串音功率、近端串音、連接圖、串音試驗(yàn)、同軸對(duì)展開長(zhǎng)度、同軸對(duì)特性阻抗、同軸對(duì)衰減性能、對(duì)稱電纜衰減性能、電容耦合及電容不平衡、阻抗及阻抗不均勻性、全部項(xiàng)目、*泄漏電纜傳輸衰減、*駐波比、4軸向?qū)щ娺B通性、CC與差分的D+D-的耦合、CC和 D-的單端耦合、D+、D-線對(duì)衰減、D+/D-上的積分差分串?dāng)_、D+/D-對(duì)內(nèi)延遲差、D+D-線對(duì)傳播延時(shí)差、D+D-線對(duì)傳播延時(shí)、D+D-線對(duì)衰減、D+和D-的直流電阻、ID Pin電阻、Rd電阻核查、Rp電阻核查、SBU_A 和 CC、 SBU_B 和 CC的單端耦合、SBU_A 和 SBU_B 的單端耦合、SBU_A/SBU_B 和差分的D+D- 的耦合、SS線對(duì)和D+D-線對(duì)的差模近端和遠(yuǎn)端串?dāng)_、SS線對(duì)的差模近端串?dāng)_、VBUS與其他低速信號(hào)的互感、VBUS與差分的D+D-的耦合、VBUS回路電感、VBUS電容、一般性檢查、傳播延時(shí)差、傳播延時(shí)、信號(hào)對(duì)衰減、關(guān)鍵尺寸、可焊性、奈奎斯特頻率的插入損耗擬合、導(dǎo)電連通性、差分-共模轉(zhuǎn)換、扭曲測(cè)試、抗電強(qiáng)度、拔出力、接觸電阻、插入力、機(jī)械沖擊、機(jī)械振動(dòng)、混合氣體、溫度沖擊、溫度變化、溫度循環(huán)、溫濕度循環(huán)、電容測(cè)試、電纜屏蔽效能、目測(cè)檢查、線材檢查、線纜壓降、線纜彎曲、線纜拔出、線纜的差模到共模模式轉(zhuǎn)換、線纜的差模插入損耗、線纜阻抗、絕緣電阻、綜合回波損耗、綜合多反射、耐久性、觸點(diǎn)電流額定值、連接器的屏蔽效能檢查、連接器的差模阻抗、鍍層厚度、高溫壽命、高速對(duì)與D+/D-的集成串?dāng)_、高速對(duì)的集成串?dāng)_、同軸對(duì)端阻抗及內(nèi)部阻抗不均勻性試驗(yàn)、對(duì)地電容不平衡、對(duì)屏電容不平衡、特性阻抗、電容耦合、線對(duì)間電容不平衡、遠(yuǎn)端串音、部分項(xiàng)目、串音、介電強(qiáng)度、傳輸速率、全部參數(shù)、單根導(dǎo)線直流電阻1、單根導(dǎo)線直流電阻2、固有衰減1、固有衰減2、填充式電纜的滲水試驗(yàn)、導(dǎo)體抗張強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率、屏蔽衰減、工作電容1、工作電容2、平均特性阻抗、護(hù)套耐環(huán)境應(yīng)力開裂試驗(yàn)、電容不平衡1、電容不平衡2、電容、電感、電纜低溫彎曲性能、電纜外徑、護(hù)套厚度的測(cè)量、電纜溫度的測(cè)定1、電纜溫度的測(cè)定2、直流電阻、線對(duì)絞合節(jié)距的測(cè)量、線芯混斷、斷線1、線芯混斷、斷線2、結(jié)構(gòu)檢查1、結(jié)構(gòu)檢查2、絕緣和護(hù)套抗張強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率、絕緣電氣強(qiáng)度1、絕緣電氣強(qiáng)度2、絕緣電阻試驗(yàn)1、絕緣電阻試驗(yàn)2、耦合衰減、轉(zhuǎn)移阻抗、輸入阻抗、近端串音衰減1、近端串音衰減2、遠(yuǎn)端串音防衛(wèi)度1、遠(yuǎn)端串音防衛(wèi)度2、鋁帶重疊寬度、長(zhǎng)度誤差測(cè)量、非填充式電纜的護(hù)套完整性試驗(yàn)、單根電纜的火焰蔓延性能、導(dǎo)體斷裂伸長(zhǎng)率、導(dǎo)體直徑、導(dǎo)體直流電阻、護(hù)套平均厚度、護(hù)套較薄處厚度、護(hù)套老化前抗張強(qiáng)度、護(hù)套老化前斷裂伸長(zhǎng)率、護(hù)套老化后抗張強(qiáng)度、護(hù)套老化后斷裂伸長(zhǎng)率、電纜低溫彎曲試驗(yàn)、絕緣低溫彎曲試驗(yàn)

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)一覽：

1、GB/T 2951.11-2008 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第11部分:通用試驗(yàn)方法-厚度和外形尺寸測(cè)量-機(jī)械性能試驗(yàn) 8.2

2、YD/T 837.1-1996 《銅芯聚烯烴絕緣鋁塑綜合護(hù)套市內(nèi)通信電纜試驗(yàn)方法 第1部分 總則》

3、BS EN 50289-1-2：2001 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-電性能試驗(yàn)方法-直流電阻》

4、GB/T 50312-2016 綜合布線工程驗(yàn)收規(guī)范 附錄B 0.3.1

5、BS EN 50289-1-10：2002 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-電性能試驗(yàn)方法-串音》

6、GB/T 2951.14-2008 電纜和光纜絕緣和護(hù)套材料通用試驗(yàn)方法 第14部分:通用試驗(yàn)方法-低溫試驗(yàn) 8.2

7、BS EN 50289-3-4：2001 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-機(jī)械性能試驗(yàn)方法-絕緣和護(hù)套抗張強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率》

8、UL 444:2015(第4版) 通信電纜

9、GB/T 5441-2016 通信電纜試驗(yàn)方法 5.5

10、BS EN 50289-1-4：2001 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-電性能試驗(yàn)方法-絕緣電阻》

11、TB10430-2014 鐵路數(shù)字移動(dòng)通信系統(tǒng)（GSM-R)工程檢測(cè)規(guī)程 5.4.3

12、IEC 62153-4-4：2015 《金屬通信電纜試驗(yàn)方法 第4-4部分：電磁兼容性(EMC) 屏蔽衰減、測(cè)量屏蔽衰減as≤3GHz和as>3GHz的試驗(yàn)方法》 5

13、YD/T 837.2-1996 《銅芯聚烯烴絕緣鋁塑綜合護(hù)套市內(nèi)通信電纜試驗(yàn)方法 第2部分 電氣性能試驗(yàn)方法》

14、GB/T13849.1-2013、GB/T 13849.2~4-1993 聚烯烴絕緣聚烯烴護(hù)套市內(nèi)通信電纜 第1部分:總則、聚烯烴絕緣聚烯烴護(hù)套市內(nèi)通信電纜 第2部分:銅芯、實(shí)心或泡沫(帶皮泡沫)聚烯烴絕緣、非填充式、擋潮層聚乙烯護(hù)套市內(nèi)通信電纜、聚烯烴絕緣聚烯烴護(hù)套市內(nèi)通信電纜 第3部分:銅芯、實(shí)心或泡沫(帶皮泡沫)聚烯烴絕緣、填充式、擋潮層聚乙烯護(hù)套市內(nèi)通信電纜、聚烯烴絕緣聚烯烴護(hù)套市內(nèi)通信電纜 第4部分:銅芯、實(shí)心聚烯烴絕緣(非填充)、自承式、擋潮層聚乙烯護(hù)套市內(nèi)通信電纜

15、BS EN 50289-1-7：2001 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-電性能試驗(yàn)方法-傳輸速率》

16、USB TYPE-C cab&conn-1.2/2017 通用串行總線Type-C連接器和線纜組件測(cè)試規(guī)范 3

17、BS EN 50289-1-8:2017 ?《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范 第1-8部分 電性能試驗(yàn)方法-衰減》

18、BS EN 50289-1-6：2002 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-電性能試驗(yàn)方法-電磁特性》

19、USB3.1 cab&conn-1.0/2017 通用串行總線3.1傳統(tǒng)連接器線纜組件測(cè)試規(guī)范 3

20、BS EN 50289-1-3：2001 《通信電纜-測(cè)試方法規(guī)范-電性能試驗(yàn)方法-介電強(qiáng)度》

檢測(cè)時(shí)間周期

一般3-10個(gè)工作日（特殊樣品除外），具體請(qǐng)咨詢客服。

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械取?/p>

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檢測(cè)流程步驟

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