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塑封微電子器件第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)

檢測報(bào)告圖片模板

檢測報(bào)告圖片

塑封微電子器件檢測測試哪些指標(biāo)?檢測費(fèi)用多少?檢測周期多久呢?我們嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測和評(píng)估,確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí),我們還根據(jù)客戶的需求,提供個(gè)性化的檢測方案和報(bào)告,幫助廠家更好地了解產(chǎn)品質(zhì)量和性能。

檢測項(xiàng)目(參考):

內(nèi)部目檢、掃描聲學(xué)顯微鏡檢查、掃描電子顯微鏡(SEM)檢查、玻璃鈍化層的完整性檢查、外部目檢、X射線檢查、聲學(xué)掃描顯微鏡、鍵合強(qiáng)度、SEM檢查、玻璃鈍化層完整性

檢測標(biāo)準(zhǔn)一覽:

1、GJB 4027A-2006 **電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目 1103

2、MIL-STD- 883K-2016 微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法 MIL-STD-883K-2016

3、MIL-STD-883K-2016 微電路試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)方法 方法2009.12

4、GJB4027A-2006 **電子元器件破壞性物理分析方法

5、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

6、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法2073、2074

7、MIL-STD- 1580B-2014 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 MIL-STD-1580B-2014

8、MIL-STD-1580B-2014 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 要求16.5

9、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 2010.1、2013

10、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

檢測報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高??蒲械?。

如果您對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)和安全性能有嚴(yán)格要求,不妨考慮選擇我們的檢測服務(wù)。讓我們助您一臂之力,共創(chuàng)美好未來。

報(bào)告有效期多久

一般檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來說只要測試沒更新,測試不變檢測報(bào)告一直有效。如果是用于過電商平臺(tái),一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測流程步驟

檢測流程步驟

第三方檢測機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國,檢測領(lǐng)域包括食品、環(huán)境、建材、電子、化工、汽車、家居、紡織品、農(nóng)產(chǎn)品等,具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

溫馨提示:以上內(nèi)容為部分列舉,僅供參考使用,更多檢測需求請(qǐng)咨詢客服。

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