低氣壓檢測成分分析質檢報告

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GB/T19258.1-2022殺菌用紫外輻射源第1部分:低氣壓汞蒸氣放電燈

GB/T2423.21-1991電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法

GB/T2423.27-1981電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法

JJG(電子)31502-2008高低溫低氣壓試驗設備檢定規(guī)程

GB/T2423.26-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗

GB/T2423.25-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗

GB/T5170.10-2008電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設備

GB/T2423.27-2005電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗

GB/T5170.10-1996電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法高低溫低氣壓試驗設備

GB/T2424.24-1995電工電子產品環(huán)境試驗溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗導則

GB/T2423.42-1995電工電子產品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

GB/T2423.26-1992電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM:高溫／低氣壓綜合試驗

GB/T2424.15-1992電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度／低氣壓綜合試驗導則

GB/T2423.25-1992電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM:低溫／低氣壓綜合試驗

GB/T12085.5-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法綜合低溫、低氣壓

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