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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3節(jié) 6 | 半導體器件集成電路存儲器 | 功能測試（全0全1，55AA、互補讀寫、Match算法等） |
| 2 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第3節(jié) 6 | 半導體器件集成電路存儲器 | 功能測試（全0全1，55AA、互補讀寫、Match算法等） |
| 3 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第3節(jié) 1 | 半導體器件集成電路存儲器 | 動態(tài)條件下的總電源電流 |
| 4 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3節(jié) 1 | 半導體器件集成電路存儲器 | 動態(tài)條件下的總電源電流 |
| 5 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第3節(jié) 4.6 | 半導體器件集成電路存儲器 | 存儲器的特定時間 |
| 6 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.6 d4） | 半導體器件集成電路存儲器 | 存儲器的特定時間：寫恢復(fù)時間 |
| 7 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.6 d3） | 半導體器件集成電路存儲器 | 存儲器的特定時間：讀存取時間 |
| 8 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第3節(jié) 4.2 | 半導體器件集成電路存儲器 | 延遲時間 |
| 9 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇 第3節(jié) 4.2 | 半導體器件集成電路存儲器 | 延遲時間 |
| 10 | 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 測試方法 第2節(jié) 2 | 半導體器件集成電路存儲器 | 輸入低電平電流I<Sub>IL |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)半導體器件集成電路存儲器檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導體器件集成電路存儲器檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《半導體器件集成電路存儲器檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
