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檢測項(xiàng)目及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)一覽表
| 序號(hào) | 檢測標(biāo)準(zhǔn) | 檢測對象 | 檢測項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)4 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 工作狀態(tài)時(shí)電源電流 |
| 2 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)4 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 待機(jī)狀態(tài)時(shí)電源電流 |
| 3 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)2 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸入低電平電流 |
| 4 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)2 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸入高電平電流 |
| 5 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)1 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸出低電平電壓 |
| 6 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)1 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸出高電平電壓 |
| 7 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV篇 第2節(jié)7 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸出高阻態(tài)電流 |
| 8 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV 篇 第2 節(jié)4 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 工作狀態(tài)時(shí)電源電流 |
| 9 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV 篇 第2 節(jié)2 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸入低電平電流 |
| 10 | 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998 第IV 篇 第2 節(jié)2 | 半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器 | 輸入高電平電流 |
檢測時(shí)間周期
一般3-10天出報(bào)告，有的項(xiàng)目1天出報(bào)告，具體根據(jù)半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器檢測項(xiàng)目而定。
檢測報(bào)告有效期
一般半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器檢測報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認(rèn)需求；
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià)；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報(bào)告、售后服務(wù)；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關(guān)于《半導(dǎo)體集成電路存儲(chǔ)器檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
