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檢測項目及執(zhí)行標準一覽表
| 序號 | 檢測標準 | 檢測對象 | 檢測項目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 | 半導體集成電路TTL電路 | 功能測試：（靜態(tài)測試、動態(tài)測試） |
| 2 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 3.4至3.9 | 半導體集成電路TTL電路 | 延遲時間t<Sub>pd |
| 3 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.25 | 半導體集成電路TTL電路 | 電源電流I<Sub>CC |
| 4 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.25 | 半導體集成電路TTL電路 | 電源電流I<Sub>DD |
| 5 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 | 半導體集成電路TTL電路 | 結(jié)電容C<Sub>j |
| 6 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.5 | 半導體集成電路TTL電路 | 輸入低電平電壓V<Sub>IL |
| 7 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.13 | 半導體集成電路TTL電路 | 輸入低電平電流I<Sub>IL |
| 8 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.1 | 半導體集成電路TTL電路 | 輸入鉗位電壓V<Sub>IK |
| 9 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.2 | 半導體集成電路TTL電路 | 輸入高電平電壓V<Sub>IH |
| 10 | 半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理 SJ/T10735-1996 2.12 | 半導體集成電路TTL電路 | 輸入高電平電流I<Sub>IH |
檢測時間周期
一般3-10天出報告，有的項目1天出報告，具體根據(jù)半導體集成電路TTL電路檢測項目而定。
檢測報告有效期
一般半導體集成電路TTL電路檢測報告上會標注實驗室收到樣品的時間、出具報告的時間。檢測報告上不會標注有效期。
檢測流程步驟
1、電話溝通、確認需求；
2、推薦方案、確認報價；
3、郵寄樣品、安排檢測；
4、進度跟蹤、結(jié)果反饋；
5、出具報告、售后服務；
6、如需加急、優(yōu)先處理；
溫馨提示：以上關于《半導體集成電路TTL電路檢測》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請咨詢客服。
