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珠寶檢測儀檢測

檢測報告圖片

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珠寶檢測儀檢測報告如何辦理?測試哪些項(xiàng)目呢?檢測費(fèi)用價格是多少呢?下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)珠寶檢測儀檢測標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計檢測方案?!驹斍樽稍儯?32-6275-2056】。做檢測,上百檢!我們只做真實(shí)檢測。

檢測周期

一般3-15個工作日,可加急。

檢測方式

可寄樣檢測、目測檢測、見證試驗(yàn)、現(xiàn)場檢測等。

檢測費(fèi)用

具體根據(jù)珠寶檢測儀檢測檢測數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請咨詢在線客服。

檢測產(chǎn)品

0珠寶檢測儀簡介

珠寶檢測儀是待測樣品的一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強(qiáng)度,對樣品進(jìn)行定量,定性分析。

1珠寶檢測儀影響因素

影響XRF測金儀的檢測結(jié)果的因素有很多。由于*飾產(chǎn)品的特殊情況,受方法原理的限制,在使用本方法時檢測人員應(yīng)了解和熟悉以下影響結(jié)果的因素(這些影響因素在不同情況下將對特征譜線強(qiáng)度的采集產(chǎn)生很大的影響,甚至造成誤判):

a)被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大的差異;

b)被測樣品的表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理;

c)測量時間;

d)樣品的形狀;

e)樣品測量的面積;

f)貴金屬的含量多少;

XRF測金儀檢測出來的結(jié)果通常需要全面理解,由于被測的*飾產(chǎn)品不同,使用的儀器不同,檢測人員的素質(zhì)水平不同,對檢測結(jié)果的接收范圍建議在以下范圍內(nèi)選取。隨貴金屬含量的減少,可接收的范圍將增大。測量結(jié)果的誤差范圍為0.1%—3%,也可以根據(jù)委托方的協(xié)議確定,對結(jié)果如有爭議,應(yīng)以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結(jié)果為準(zhǔn)。

X熒光光譜儀,具有重現(xiàn)性好,測量速度快,靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析,并能給出半定量結(jié)果,結(jié)果準(zhǔn)確度對某些樣品可以接近定量水平,分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析,薄膜分析。 測量樣品的尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

儀器類別: 0303040903 /儀器儀表 /成份分析儀器 /熒光光度計

指標(biāo)信息: 1.發(fā)射源是Rh靶X光管,電流125mA,電壓60kV,功率3kW 2.儀器在真空條件下工作,真空度<13pascals 3.5塊分析晶體,可以分析元素周期表F~U之間所有元素,含量范圍是ppm~100% 4.分析軟件是Philips公司(現(xiàn)為PANalytical)版軟件,既可作半定量,也可定量分析。精密度:在計算率N=1483870時,RSD=0.08% 穩(wěn)定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%

分析對象主要有各種磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等,以及各種形態(tài)樣品的無標(biāo)半定量分析,對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金,結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速,某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。

2珠寶檢測儀主要優(yōu)勢

1 ) 3秒鐘內(nèi)可對金銀飾品進(jìn)行定性識別,30秒~60秒自動計算出*飾的精確含量

2 ) 對樣品無需任何物理和化學(xué)處理,即無損檢測金銀飾品

3 ) 分析范圍:能夠分析金,鉑,銀,鈀等含量0.3%~99.99%

4) 安全性能指針符合國家標(biāo)準(zhǔn)要求(光線激發(fā)源為MO靶X光管)

5) 具有溫濕度自動補(bǔ)償功能

6) 符合較嚴(yán)格的輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式(采用滑蓋設(shè)計)

7) 探頭指針高,性能好,壽命長;

8) 全新32位軟硬件系統(tǒng),工作可靠,效率高

9) 全球率先將先進(jìn)的攝像定位技術(shù)引入珠寶檢測領(lǐng)域。該攝像定位系統(tǒng)除讓*飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標(biāo)位置外,還可以將*飾被檢測到的精確位置的照片對應(yīng)于檢測結(jié)果,連同計算報告一起打印出來。

10)集成工業(yè)計算機(jī)在設(shè)備機(jī)箱內(nèi),無需外接計算機(jī);帶門鎖電鎖,使日常管理更便捷

3珠寶檢測儀主要用途

X熒光光譜測金儀亦稱XRF,設(shè)備其分析方法,是具有一定能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線,探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比,利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強(qiáng)度,對樣品進(jìn)行定量,定性分析。

4珠寶檢測儀原理

待測樣品的一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。這些核外電子圍繞著原子核按不同軌道運(yùn)轉(zhuǎn),它們按不同的能量分布在不同的電子殼層,分布在同一殼層的電子具有相同的能量。

當(dāng)具有高能量的入射(一次)X射線與原子發(fā)生碰撞時,會打破(待測樣品的)原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層(如:K層)的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來,電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位,這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來補(bǔ)充相應(yīng)的電子空位。由于不用電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量,這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量——每種元素的發(fā)射強(qiáng)度與樣品中的元素含量成正比,通過預(yù)先設(shè)置好的校正曲線計算出來,可顯示其含量。

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檢測流程步驟

檢測流程步驟

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