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綜合試驗(yàn)檢測CMA報(bào)告成分分析檢測中心可以為您提供材料成分分析、指標(biāo)檢測、性能測試等服務(wù)。檢測報(bào)告可以提高消費(fèi)者對(duì)您產(chǎn)品的信賴。

檢測項(xiàng)目

動(dòng)作頻率；質(zhì)量；長度

檢測范圍

推車耐久跨越綜合試驗(yàn)機(jī)

檢測標(biāo)準(zhǔn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.25-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)【適用范圍】

GB/T2423的本部分是關(guān)于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品低溫(溫度漸變或突變)和低氣壓綜合試驗(yàn)，見8.2.2和8.2.8。rn本試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對(duì)其貯存和使用中遇到的低溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應(yīng)性。rn本綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)境影響時(shí)使用。本部分規(guī)定的試驗(yàn)程序只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。rn本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品。rn本試驗(yàn)程序適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)。當(dāng)氣壓小于或等于1kPa時(shí)，可不必考慮試驗(yàn)程序的內(nèi)容。rn本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關(guān)系。三者的關(guān)系見專門標(biāo)準(zhǔn)。rnGB/T2423.1試驗(yàn)A中有關(guān)非散熱試驗(yàn)樣品和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對(duì)比的指導(dǎo)適用于本部分。rn注：非散熱試驗(yàn)樣品的定義按GB/T2421相關(guān)的規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測量其*熱點(diǎn)的溫度。rnGB/T2423.1試驗(yàn)A中散熱試驗(yàn)樣品應(yīng)該優(yōu)先在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行試驗(yàn)。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.25-1992電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)【適用范圍】

GB/T2423的本部分是關(guān)于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品高溫(溫度漸變或突變)和低氣壓綜合試驗(yàn)，見8.2.2和8.2.8。rn本試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品對(duì)其貯存和使用中遇到的高溫-低氣壓綜合環(huán)境的適應(yīng)性。rn本綜合試驗(yàn)通常只有在試驗(yàn)樣品進(jìn)行單一環(huán)境試驗(yàn)不能揭示綜合環(huán)境影響時(shí)使用。本部分規(guī)定的試驗(yàn)程序只適用于在試驗(yàn)期間能夠達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。rn本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法一次只能試驗(yàn)一個(gè)散熱試驗(yàn)樣品。rn本試驗(yàn)程序適用于氣壓大于1kPa的壓力試驗(yàn)。當(dāng)氣壓小于或等于1kPa時(shí)，可不考慮試驗(yàn)程序的內(nèi)容。rn本部分沒有指明高度、壓力和溫度的關(guān)系。三者的關(guān)系見專門標(biāo)準(zhǔn)。rnGB/T2423.2試驗(yàn)B中有關(guān)非散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)和散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)應(yīng)用對(duì)比的指導(dǎo)適用于本部分。rn注：非散熱試驗(yàn)樣品的定義按GB/T2421中相關(guān)規(guī)定，不應(yīng)在低氣壓下測量其*熱點(diǎn)的溫度。rnGB/T2423.2試驗(yàn)B中散熱試驗(yàn)樣品應(yīng)該優(yōu)先在無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗(yàn)箱中進(jìn)行試驗(yàn)。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.26-1992環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)【適用范圍】

GB/T2423的本部分給出了設(shè)備或零部件的溫度／低氣壓或溫度／濕度／低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)方法及其導(dǎo)則。
綜合試驗(yàn)的目的是研究溫度／低氣壓或溫度／濕度／低氣壓綜合試驗(yàn)對(duì)設(shè)備或零部件的影響程度。
綜合試驗(yàn)方法用于評(píng)價(jià)電性能、機(jī)械性能或其他的物理性能。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本部分提供了由低溫、低氣壓和濕熱組成的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)程序。*先低溫和低氣壓結(jié)合在一起，其次升溫，然后與濕熱條件結(jié)合在一起。本試驗(yàn)應(yīng)用了試驗(yàn)A和試驗(yàn)M。雖然未完全按照試驗(yàn)D引入濕度，但用“Z/AMD”來表示本試驗(yàn)*恰當(dāng)和*具提示性。n本試驗(yàn)用于飛行器所使用的元器件和設(shè)備，特別是在非加熱和非增壓部位的元器件和設(shè)備。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.27-1981電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)的目的在于確定產(chǎn)品在低溫、低氣壓和濕熱所組成的連續(xù)綜合環(huán)境下的適應(yīng)性。n本試驗(yàn)的對(duì)象是裝在飛行器中沒有溫度控制和不增壓區(qū)域的產(chǎn)品。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.35-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本部分適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)，基本上是試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）和試驗(yàn)A：低溫的綜合。rn本試驗(yàn)方法只適用于試驗(yàn)樣品暴露在低溫條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定的情況。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.35-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AFc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)，基本上是試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）和試驗(yàn)A：低溫的綜合。n本試驗(yàn)方法只限于試驗(yàn)樣品在低溫暴露條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定的情況時(shí)用。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.36-1986電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)方法【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)適用于散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)，基本上是試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）和試驗(yàn)B：高溫的綜合。n本試驗(yàn)方法只限于試驗(yàn)樣品在高溫暴露條件下達(dá)到溫度穩(wěn)定的情況時(shí)用。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.15-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則【適用范圍】

GB/T2424的本部分規(guī)定的溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)，涉及地面或空中應(yīng)用的一系列氣壓。rn本部分不適用于氣壓小于1kPa的試驗(yàn)。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.15-1992電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度(低溫、高溫)和振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則【適用范圍】

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2424.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)導(dǎo)則【適用范圍】

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.19-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備【適用范圍】

本部分規(guī)定了溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點(diǎn)數(shù)量及位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。rn本部分適用于GB/T2423.35-1986《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)則　試驗(yàn)Z/Afc:散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法》和GB/T2423.36-1986（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。rn溫度/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)設(shè)備檢定前，其溫度箱（室）和振動(dòng)臺(tái)（含附加臺(tái)面）應(yīng)分別按GB/T5170.2-1996和GB/T5170.13～GB/T5170.15-1985規(guī)定的方法進(jìn)行檢定。檢定合格后方可進(jìn)行綜合檢定。rn本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

K04電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.19-1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備【適用范圍】

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30電工綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.10-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第15部分：寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本部分規(guī)定了寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。rn本部分適用于光學(xué)儀器，裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。rn本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到寬帶隨機(jī)振動(dòng)(數(shù)字控制)與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。rn

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.15-1995光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法寬帶隨機(jī)振動(dòng)(中再現(xiàn)性)與高溫、低溫綜合試驗(yàn)【適用范圍】

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

19.040-環(huán)境試驗(yàn)

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.16-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。rn本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。rn本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時(shí)的變化程度。rn

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.16-1995光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第17部分：污染、太陽輻射綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)污染、太陽輻射綜合試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來自其他領(lǐng)域的組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）的污染、太陽輻射綜合試驗(yàn)。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.17-2011光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法第17部分污染、太陽輻射綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了污染、太陽輻射綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.17-1995光學(xué)和光學(xué)儀器.環(huán)境試驗(yàn)方法.第18部分：濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了濕熱、低內(nèi)壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記，適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12085.19-2011光學(xué)和光子學(xué)環(huán)境試驗(yàn)方法第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本文件描述了低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來自其他領(lǐng)域附屬組件（如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備）的低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗(yàn)。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

N30光學(xué)儀器

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

37.020-光學(xué)設(shè)備

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T1399.3-2019電力試驗(yàn)/檢測車第3部分：電力設(shè)備綜合試驗(yàn)車【適用范圍】

本部分規(guī)定了電力設(shè)備綜合試驗(yàn)車（簡稱綜合試驗(yàn)車）的組成、技術(shù)要求、標(biāo)識(shí)、銘牌、文件、試驗(yàn)和驗(yàn)收、貯存、運(yùn)輸?shù)纫蟆?br/>本部分適用于綜合試驗(yàn)車的生產(chǎn)、驗(yàn)收和貯存。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

F24電力

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

27.100-電站綜合

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DZ0039.11-1992地質(zhì)儀器產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)條件及方法高溫/高壓綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了地質(zhì)儀器產(chǎn)品（以下簡稱產(chǎn)品）的高溫/高壓綜合試驗(yàn)條件及試驗(yàn)方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)高溫/高壓綜合試驗(yàn)有要求的各種測井儀器產(chǎn)品。目的在于確定受試產(chǎn)品在高溫高壓環(huán)境中使用的適應(yīng)性及結(jié)構(gòu)密封的完好性。

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

D80地質(zhì)勘探設(shè)備

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

73.100.01-采礦設(shè)備綜合

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)JB/T9444.10-1999復(fù)印機(jī)械基本環(huán)境試驗(yàn)方法試驗(yàn)G:溫度/濕度綜合試驗(yàn)【適用范圍】

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了復(fù)印機(jī)械產(chǎn)品在溫、濕度綜合條件下進(jìn)行試驗(yàn)所用試驗(yàn)設(shè)備、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)規(guī)程。rn本標(biāo)準(zhǔn)適用于復(fù)印機(jī)械產(chǎn)品包括靜電復(fù)印機(jī)、重氮復(fù)印機(jī)、辦公用小膠印機(jī)、光電謄影機(jī)、速印機(jī)及復(fù)印器材的溫度/濕度綜合試驗(yàn)。rnn

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

E30電影、照相、縮微、復(fù)印設(shè)備

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

75.100-潤滑劑、工業(yè)油及相關(guān)產(chǎn)品

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ/Z9001.8-1987基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分:各種試驗(yàn)試驗(yàn)Z/AM:寒冷/低氣壓綜合試驗(yàn)【適用范圍】

【中國標(biāo)準(zhǔn)分類】

S35電子元器件與信息技術(shù)綜合

【國際標(biāo)準(zhǔn)分類】

29.280-電力牽引設(shè)備

檢測流程步驟

溫馨提示：《綜合試驗(yàn)檢測檢驗(yàn)認(rèn)證測試》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測機(jī)構(gòu)遍布全國，更多檢測需求請(qǐng)咨詢客服。