檢測(cè)報(bào)告圖片
金屬材料及制品微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)報(bào)告如何辦理？測(cè)試哪些項(xiàng)目？測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有哪些？百檢也可依據(jù)相應(yīng)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。
檢測(cè)項(xiàng)目：
微觀結(jié)構(gòu)、鋼鐵材料缺陷顯微分析、微觀形貌觀察、表面層深度/厚度測(cè)定、非金屬夾雜物含量測(cè)定、低倍、塔形、晶間腐蝕、深度測(cè)定、組織分析、脫碳層、奧氏體不銹鋼的耐蝕性、滲氮層深度、滲碳淬火硬化層深度、脫碳深度、鋼的低倍檢查、顯微組織、滲氮層測(cè)定、滲碳金相檢驗(yàn)、灰鐵金相檢驗(yàn)、球鐵金相檢驗(yàn)、鋼質(zhì)模鍛件金相組織、非金屬夾雜物顯微評(píng)定、低倍組織(鋼材）、低倍組織（鋁材）、晶粒尺寸、相結(jié)構(gòu)分析、低倍檢驗(yàn)、夾雜物、掃描電鏡X-射線能譜法分析奧氏體不銹鋼中Cr和Ni的含量/Cr、Ni、球化、石墨化、金屬材料二次電子像形貌觀察、鋁合金掃描電鏡分析—背散射電子像形貌觀察/形貌觀察、晶粒度、鋼的脫碳層深度、成分面分布、球化級(jí)別、滲層深度及組織、滲碳層及組織、硬化層深度及組織、鑄鐵顯微組織、低倍組織、平均晶粒度、非金屬夾雜物、高碳鉻軸承鋼、兩相鈦合金高低倍組織、滲碳層深度、非金屬 夾雜物、脫碳層深度、珠光體面積百分含量、平均晶粒度級(jí)別數(shù)、灰鑄鐵珠光體數(shù)量、灰鑄鐵石墨分布形狀、灰鑄鐵石墨長(zhǎng)度、灰鑄鐵碳化物數(shù)量、非金屬夾雜物級(jí)別、α-β鈦合金高低倍組織、夾雜物含量、微束分析、微米級(jí)長(zhǎng)度、微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力、點(diǎn)陣常數(shù)、能譜分析、表面化學(xué)分析深度剖析、表面層深度、表面成分分析、表面元素化學(xué)態(tài)分析、表面成分分析、金相檢驗(yàn)、鋼中殘余奧氏體、鍍層厚度、顯微組織檢驗(yàn)與評(píng)級(jí)、有害沉淀相檢驗(yàn)、珠光體球化評(píng)級(jí)、鋼中非金屬夾雜物、掃描電鏡分析、微區(qū)定量分析、電子背散射衍射分析、織構(gòu)分析、不銹鋼中α-相含量、涂層金相、多孔涂層體視學(xué)評(píng)價(jià)、鈦及鈦合金組織、表面污染、鈦及鈦合金高低倍組織檢驗(yàn)、鋼的顯微組織評(píng)價(jià)、微觀金相、斷口檢驗(yàn)、金相組織、微區(qū)分析
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
1、ASTM A923-2014 奧氏體-鐵素體型雙相不銹鋼金屬間不良化合相的標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方法
2、YS/T 347-2020 銅及銅合金平均晶粒度測(cè)定方法
3、ASTM E2142-08（2015） 利用掃描電鏡對(duì)鋼中夾雜物進(jìn)行評(píng)定和分類的方法
4、GB/T 5617-2005 鋼的感應(yīng)淬火或火焰淬火后有效硬化層深度的測(cè)定
5、GB/T 31563-2015 金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法
6、GB/T 6394-2017 金屬平均晶粒度測(cè)定法
7、GB/T 9450-2005 鋼件滲碳淬火硬化層深度的測(cè)定和校核
8、JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
9、DL/T 674-1999 火電廠用20鋼珠光體球化評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)
10、ASTM E 1077-14 測(cè)定鋼樣品脫碳深度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 ASTM E 1077-14
11、YB/T 5360-2006 金屬材料定量極圖的測(cè)定
12、YY/T 0988.14-2016 《外科植入物涂層 第14部分：多孔涂層體視學(xué)評(píng)價(jià)方法》
13、AWS D1.1/D1.1M:2020 鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范 6.10.4、6.23.2
14、GB/T 36591-2018 硬質(zhì)合金制品的涂層金相檢測(cè)方法
15、GB/T4334-2008 金屬和合金的腐蝕 不銹鋼晶間腐蝕試驗(yàn)方法
16、GB/T 30704-2014 表面化學(xué)成分 X射線光電子能譜 分析指南
17、GB/T3246.2-2012 變形鋁及鋁合金制品 低倍組織檢驗(yàn)方法
18、GB/ T34891-2017 滾動(dòng)軸承 高碳鉻軸承鋼零件 熱處理技術(shù)條件
19、ASTM E 112-13 測(cè)定平均晶粒度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法 ASTM E 112-13
20、JY/T010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
檢測(cè)報(bào)告用途
商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械取?/p>
檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格
因測(cè)試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。
檢測(cè)流程步驟
溫馨提示：《金屬材料及制品微觀結(jié)構(gòu)檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試》內(nèi)容僅為部分列舉供參考使用，百檢網(wǎng)匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，更多檢測(cè)需求請(qǐng)咨詢客服。
