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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)編號：GB/T 11072-2009銻化銦多晶、單晶及切割片
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了銻化銦多晶、單晶及單晶切割片的產(chǎn)品分類、技術(shù)要求和試驗方法等。本標(biāo)準(zhǔn)適用于區(qū)熔法制備的銻化銦多晶及直拉法制備的供制作紅外探測器和磁敏元件等用的銻化銦多晶、單晶及切割片。
英文名稱： Indium antimonide polycrystal,single crystals and as-cut slices
替代情況： 替代GB/T 11072-1989
中標(biāo)分類： 冶金>>半金屬與半導(dǎo)體材料>>H83化合物半導(dǎo)體材料
ICS分類： 電氣工程>>29.045半導(dǎo)體材料
發(fā)布部門： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
發(fā)布日期： 2009-10-30
實施日期： 2010-06-01
*發(fā)日期： 1989-03-31
提出單位： 全國半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
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