標準簡介：本部分規(guī)定了污染試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學物質1)(以下稱試劑)同光學儀器的接觸。本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。1) 不包括放射性元素和同位素及危險性化學物質如2,2-二氧二乙硫醚。本部分不適用于作為正常的生產控制。本試驗目的是研究儀器,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時間內暴露在試劑中的抵抗能力。試驗通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時參考。

標準號：GB/T 12085.12-2010

標準名稱：光學和光學儀器　環(huán)境試驗方法　第12部分：污染

英文名稱：Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 12:Contamination

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2011-01-14

實施日期：2011-05-01

中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學儀器>>N30光學儀器綜合

國際標準分類號（ICS）：成像技術>>37.020光學設備

替代以下標準：替代GB/T 12085.12-1989

起草單位：上海理工大學、寧波永新光學股份有限公司

歸口單位：全國光學和光子學標準化技術委員會(SAC/TC 103)

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.