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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線管的光學(xué)參數(shù)和電參數(shù)的測(cè)試方法，并規(guī)定了對(duì)測(cè)試條件的要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的X射線管。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 12079-1989
標(biāo)準(zhǔn)名稱：X射線管光電性能測(cè)試方法
英文名稱：Measurements of the photoelectric properties for X-ray tubes
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1989-12-29
實(shí)施日期：1990-08-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電真空器件>>L39其他電真空器件
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：電子學(xué)>>31.100電子管
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 12079-2012代替
起草單位：電子標(biāo)準(zhǔn)化所
歸口單位：全國(guó)電真空器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
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