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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 11685-1989
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體X射線能譜儀的測試方法
英文名稱：Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1989-10-14
實施日期：1990-05-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：能源、核技術(shù)>>核儀器與核探測器>>F80核儀器與核探測器綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：計量學(xué)和測量、物理現(xiàn)象>>17.240輻射測量
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 11685-2003代替
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