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GB1555-1979硅單晶晶向光圖測(cè)量方法

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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽:

標(biāo)準(zhǔn)號(hào):GB 1555-1979

標(biāo)準(zhǔn)名稱:硅單晶晶向光圖測(cè)量方法

標(biāo)準(zhǔn)類型:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì):強(qiáng)制性

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):作廢

實(shí)施日期:1980-01-01

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)(CCS):冶金>>金屬理化性能試驗(yàn)方法>>H21金屬物理性能試驗(yàn)方法

替代以下標(biāo)準(zhǔn):被GB/T 1555-1997代替

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