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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本標(biāo)準(zhǔn)適用于以等厚光波干涉原理檢驗球面(包括平面)光學(xué)零部件的面形偏差。
標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 2831-1981
標(biāo)準(zhǔn)名稱：光學(xué)零件的面形偏差 檢驗方法(光圈識別)
英文名稱：Surface form deviation of optical elements－Inspection methods
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1981-12-25
實施日期：1982-10-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 2831-2009代替
起草單位：新天光學(xué)儀器研究所
歸口單位：全國光學(xué)和光子學(xué)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家標(biāo)準(zhǔn)總局
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