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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用適當(dāng)?shù)膮⒖嘉镔|(zhì)對(duì)掃描電鏡（SEM）圖像的放大倍率進(jìn)行校準(zhǔn)的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)由校準(zhǔn)參考物質(zhì)上間距大小的可用范圍決定的放大倍率進(jìn)行校準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)不適用于專(zhuān)用測(cè)長(zhǎng)型掃描電鏡。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 27788-2020
標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則
英文名稱：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2020-06-02
實(shí)施日期：2021-04-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N32放大鏡與顯微鏡
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：成像技術(shù)>>37.020光學(xué)設(shè)備
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：替代GB/T 27788-2011
起草單位：中國(guó)地質(zhì)科學(xué)院礦產(chǎn)資源研究所、中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所、中國(guó)人民解放*海**醫(yī)大學(xué)
歸口單位：全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局.
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