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檢測執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡介：本文件規(guī)定了CMOS集成電路抗輻射（總劑量、單粒子）加固設(shè)計(jì)的流程、設(shè)計(jì)要求、建模仿真、驗(yàn)證試驗(yàn)要求。本文件適用于基于體硅/SOI CMOS工藝的數(shù)字集成電路、模擬集成電路和數(shù)模混合集成電路的抗輻射（總劑量、單粒子）加固設(shè)計(jì)。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 41033-2021
標(biāo)準(zhǔn)名稱：CMOS集成電路抗輻射加固設(shè)計(jì)要求
英文名稱：Design requirements of radiation hardening for CMOS IC
標(biāo)準(zhǔn)類型：國家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2021-12-31
實(shí)施日期：2022-07-01
中國標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：航空、航天>>航空器與航天器零部件>>V29航天用液壓元件與附件
國際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：航空器和航天器工程>>49.035航空航天用零部件
起草單位：中國航天科技集團(tuán)有限公司第九研究院第七七一研究所
歸口單位：全國宇航技術(shù)及其應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 425)
發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.
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